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6G Sub-Terahertz 研發測試平台
靈活、可擴充的 6G Sub-Terahertz (THz) 研發測試平台,可因應多頻段、多頻寬和多種波形類型的測試需求。
產品特性
這個 6G sub-THz 研發測試平台具有絕佳的靈活性和擴充性,可支援各種不同的頻段、頻率頻寬和波形類型。 此測試平台具絕佳靈活性,可在 D 頻段(110-170 GHz)和 G 頻段(140-220 GHz),提供高達 10 GHz 的頻寬,讓您能輕鬆克服新興的 6G 研發測試挑戰。
Keysight M8195A 65 GSa/s 多通道任意波形產生器(AWG),可產生寬頻和超頻寬調變中頻(IF)信號。 您可使用 Virginia Diodes Inc.(VDI)的小型 D-band 或 G-band 升頻器,將 M8195A 的寬頻 IF 信號,轉換至指定的 sub-terahertz 頻段。 而在接收器端,信號則是透過小型 VDI 降頻器,降頻至 IF,並由 Keysight UXR 多通道高效能示波器或 Keysight M8131A 多通道 AXIe 串流數位轉換器,進行數位轉換。 Keysight E8267D PSG 向量信號產生器配備選項 UNY,可為 VDI 轉換器提供具低相位雜訊的本地震盪器。
這款研發測試平台提供絕佳靈活性和擴充性,可針對多種類型的波形製作原型,並可在不同頻段下運作。 它還可進一步擴充成多通道平台,方便您進行多輸入多輸出(MIMO)研究。
應用:
- 6G 波形原型製作與測試
- 6G sub-THz 研發硬體測試
- 6G 寬頻 D 頻段(110-170 GHz)和 G 頻段(140-220 GHz)信號產生與分析
擴充 6G Sub-Terahertz 研發測試平台的功能
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M8195A 65 GSa/s AWG
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