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XP8 系列模組化光調製分析儀，頻率範圍 1 MHz 至 40 GHz，採樣率 92 GSa/s

M8292A 光學調變分析儀是一款體積輕巧的機架式測試儀器，可連接至同調發射器的光輸出端。

產品影像

  • Frequency range

    1 MHz to 40 GHz

  • Wavelength range

    1527.6 nm to 1570.01 nm

  • Error Vector Magnitude Noise Floor

    < 2.4% EVM rms at 2.5 GHz frequency offset, < 3.5% EVM rms at 10 GHz frequency offset

  • Analog Bandwidth

    37 GHz (3 dB)

  • Maximum detectable symbol rate

    74 Gbaud

  • Maximum record length

    512 kSa/channel

  • 最高頻率

    40 GHz

  • Mainframe Compatibility

    AXIe Chassis

  • 類型

    Optical Modulation Analyzer

  • Platform

    AXIe

  • 最大的取樣率

    92 GSa/s

  • ADC resolution

    8

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焦點訊息

是德科技 M8292A 光學調變分析儀是一款體積輕巧的機架式測試儀器，針對 400G 速率進行了最佳化，可連接至同調發射器的光輸出端。其具備是德科技向量信號分析儀與光學調變分析儀軟體的完整功能，用於分析複雜的調變數據信號。

同調光學元件，例如雙偏振 IQ 調變器和內差同調接收器，需要在不同的開發階段進行測試和認證。同調光學元件測試軟體為選配選項，可提供元件特性分析所需的統包式解決方案。 該軟體可輕鬆整合至 Keysight M8292A 光學調變分析儀模組、Keysight M8296A 四通道高速數位轉換器模組，以及 Keysight M8196A 高速任意波形產生器模組。

  • 最大符碼率：74 Gbaud
  • 取樣率：83 至 92 GSa/s
  • 記憶體深度：512 kSa
  • 運作頻率範圍：1 MHz 至 40 GHz
  • 類比頻寬，未修正 37 GHz（3 dB）
  • 雙插槽 AXIe 模組，具光輸入
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