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Keysight 55280A 線性量測套件可與 Keysight 5530 雷射校驗系統搭配使用，包含量測線性距離（位移）和速度所需的光學設備。
產品特性
Keysight 55280A 線性量測套件可與 Keysight 5530 雷射校驗系統搭配使用，包含量測線性距離（位移）和速度所需的光學設備。 此套件包含一個 Keysight 10766A 線性干涉儀、兩個 Keysight 10767A 線性復歸反射器、硬體基座和硬質攜帶箱。
此系統可量測干涉儀和復歸反射器之間的距離變化。 在移動之前，任何一點都可定義為量測起始點。
Keysight 55280A 可用於校驗數控機床和坐標量測機的定位準確度。 它具備極高的準確度和解析度，可當作校驗長度標準的業界既定標準。
量測範圍
- 使用線性光學元件時長達 40 公尺
- 長距離選項可達 80 公尺
準確度
- 溫度範圍：0 - 40ºC
- E1738A 空氣感測器：±0.4 ppm
- 真空中†：±0.1（±0.02）ppm
如果根據 MIL-STD 45662A 標準校驗 5519A/B 雷射頭，†則真空準確度為 ±0.02 ppm
解析度
- 線性光學元件（10766A）：1 nm（0.04 µin）
- 平面鏡光學元件（10706A/B）*：0.5 nm（0.02 µin）
- 高解析度平面鏡光學元件（10716A）*‡：0.25 nm（0.01 µin）
* 需搭配使用 10724A 平面鏡反射器。 這些光學元件的對準度比線性光學元件更靈敏，因此建議將線性光學元件用於一般用途。
‡ 10716A 的孔徑距離為 12.7 mm，而 5519A 為 11 mm。
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