キーサイト 55280Aリニア測定は、キーサイト 5530レーザー校正システムと組み合わせて使用し、直線距離(移動)と速度の測定に必要な光学機器が含まれています。

主な特長

Keysight 55280Aリニア測定キットは、Keysight 5530レーザー校正システムと組み合わせて使用し、直線距離(移動)と速度の測定に必要な光学機器が含まれています。 キットには、Keysight 10766Aリニア干渉計1台、Keysight 10767Aリニアレトロリフレクター2台、取り付け具、トランジットケースが含まれています。

このシステムは、干渉計と反射鏡の間の距離の変化を測定します。 移動前に、任意の点を測定開始点として定義することができます。

55280A は、数値制御の工作機械や座標測定器の位置決め精度の校正に使用できます。 その優れた精度と分解能により、長さの標準を校正する事実上の標準としても使用できます。

測定範囲

  • リニアオプティクス使用時最大40 m(130フィート)
  • ロング・レンジ・オプション使用時最大80 m(260フィート)

精度

  • 温度範囲:0~40 ºC(32~104 ºF)
  • E1738A エアセンサ:±0.4 ppm
  • 真空中:±0.1 (±0.02) ppm

5519A/BレーザーヘッドがMIL-STD 45662Aに基づいて校正されている場合、真空精度は±0.02 ppm

分解能

  • リニア光学(10766A):1 nm(0.04 µin)
  • プレーンミラー光学 (10706A/B) *:0.5 nm (0.02 µin)
  • 高分解能プレーンミラー光学(10716A) *‡:0.25 nm (0.01 µin)

* 10724Aプレーンミラー反射鏡が必要です。 リニア光学に比べてアライメントが非常に難しいため、一般的にはリニア光学の使用を推奨しています。
‡ 開口面距離は、10716Aが12.7 mm、5519Aが11 mmです。

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