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在動態負載狀況下保持輸出的完整性
電源相關測試挑戰：
高速裝置，例如微處理器或 FPGA，有非常快的電流暫態。 對這類裝置供電是一大挑戰，因為急遽的電流暫態會導致電源供應器的輸出電壓位準出現嚴重的壓降或振盪，尤其是電源供應器和待測裝置（DUT）之間的接線長度太長的話，就更容易出現這個問題。 而壓降和振盪會在測試過程中帶來一些問題，包括導致 DUT 被重開機、不能正常運作，並使得 DUT 或電源供應器進入錯誤狀況。 測試具備快速暫態電流的 DUT 時，您須採用適當的纜線和測試夾具技巧，並且使用具備快速輸出及先進的輸出調節能力的電源供應器。
如何使用 APS 克服測試挑戰：
- 快速的暫態響應，確保負載暫態的最低壓降
- 高、低輸出頻寬設定可調整負載的輸出
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