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ダイナミックな負荷条件における出力品質の維持
電源関連のテストの問題：
マイクロプロセッサやFPGAなどの高速デバイスでは、非常に急峻な電流トランジェントが生じる可能性があります。特に電源と被試験デバイス（DUT）の間のケーブルが長い場合は、急峻な電流トランジェントが原因で、電源の出力電圧レベルで深刻な電圧ドループや発振が発生する可能性があるので、テスト中にこの種のデバイスに電源を供給することは困難です。ドループや発振が生じると、DUTをリセットしなければならない、正しく機能しない、DUT/電源がエラー状態になるなど、テスト中にさまざまな問題が発生する可能性があります。急峻な電流トランジェントが生じるDUTをテストする場合は、高速出力と優れた出力レギュレーションを備えた電源を使用すると同時に、適切な配線／フィクスチャを用いる必要があります。
問題の解決に役立つAPSの機能：
- 急峻な電流トランジェントによる電圧ドループを最小化する高速な過渡応答
- 負荷の動作に応じて出力を調整できるハイ／ロー出力帯域幅設定