전력 관련 테스트 과제:

마이크로프로세서나 FPGA와 같은 고속 디바이스는 매우 빠른 전류 transient를 가질 수 있습니다. 이러한 디바이스에 전원을 공급하는 것은 급격한 전류 transient가 특히 전원 공급기와 DUT 사이의 긴 케이블에 직면하여 전원 공급기의 출력 전압 레벨에 심각한 전압 저하나 진동을 초래할 수 있으므로 해결하기 어려운 도전과제가 아닐 수 없습니다. 전압 저하와 진동은 테스트 중에 DUT 리셋, 부적절한 작동, DUT 또는 전원 공급기의 에러 상태 등을 비롯해 여러 가지 문제를 유발할 수 있습니다. 매우 빠른 전류 transient로 DUT를 테스트할 때는 테스트하는 동안 적절한 케이블 및 픽스처 기법을 이용해야 할 뿐만 아니라 빠른 출력 및 정교한 출력 레귤레이션을 통해 전원 공급기를 사용해야 합니다.

APS의 과제 해결 방법:

  • 급격한 전류 transient에 대한 최소 전압 저하를 보장하는 빠른 transient 응답
  • 부하 동작에 대한 출력을 튜닝하기 위한 높은 출력 및 낮은 출력 대역폭 설정

유튜브 동영상 보기: 동적 부하 조건 하에서 출력 무결성 유지
 

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