網路研討會
隨著 RF 量測的要求日益嚴苛，信號源效能會越來越影響工程師能夠特性化之項目的能力。源產生的雜訊與寄生信號可能會掩蓋低階元件的行為，而測試路徑損耗和多信號源量測則增加了信號位準、機架空間、佈線和設定方面的複雜性。
加入 Keysight 產品與研發工程師的行列，進行 30 分鐘的新款 Pro XG7 類比信號產生器導覽。現場觀看平台展示，了解其架構如何應對相位雜訊、寬頻雜訊、寄生成分、輸出功率以及多通道測試要求，並理解這些設計選擇如何轉化為實際的 RF 量測。
從事高效能 RF 量測的 RF 工程師、系統設計人員和技術決策者皆應參與。本場次對於在航太與國防、無線通訊以及先進研發環境中管理源雜訊、具損耗的測試路徑、高功率激發信號或多通道測試設定的團隊尤其相關。