웨비나
RF 측정의 요구사항이 까다로워짐에 따라, 신호 소스 성능이 엔지니어의 특성화 역량에 미치는 영향이 점점 커지고 있습니다. 소스 생성 노이즈와 스퍼스로 인해 저레벨 디바이스 거동이 모호해질 수 있으며, 테스트 경로 손실과 다중 소스 측정은 신호 레벨, 랙 공간, 케이블 연결 및 설정의 복잡성을 가중시킵니다.
새로운 Pro XG7 아날로그 신호 생성기에 대한 30분 소개 세션에 키사이트 제품 및 R&D 엔지니어와 함께 참여하세요. 플랫폼을 라이브로 시연하고, 아키텍처가 위상 노이즈, 광대역 노이즈, 스퍼리어스 콘텐츠, 출력 전력, 다중 채널 테스트 요구사항을 해결하는 방식을 확인하며, 이러한 설계 선택이 실제 RF 측정에 어떻게 반영되는지 알아보세요.
고성능 RF 측정 업무를 담당하는 RF 엔지니어, 시스템 설계자, 기술 의사결정권자의 많은 참여 바랍니다. 이 세션은 특히 항공우주 및 국방, 무선, 고급 R&D 환경에서 소스 노이즈, 손실이 있는 테스트 경로, 고전력 자극 또는 다중 채널 테스트 설정을 관리하는 팀에게 매우 유용합니다.
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