適用於相控陣列天線的快速校準與特性分析測試解決方案

探索一種現代化的無線校準方法,用以快速校準與特性分析高度集成的相位陣列天線。了解如何透過緊湊型天線測試場、向量網路分析儀、訊號產生器及整合式軟體,將系統與單元層級的校準作業自動化,使校準時間從數小時縮短至數分鐘。 

該解決方案簡報還涵蓋了漏波校正、校準驗證、波束圖測量,以及 EIRP、EVM、ACPR 和 G/T 等關鍵性能指標。

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適用於相控陣列天線的快速校準與特性分析測試解決方案






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相位陣列天線的空中下載測試

瞭解這項與 Analog Devices (ADI) 合作開發的全面校準與特性分析解決方案,該方案將測試時間從數小時大幅縮短至數秒。 

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