ICTテストと機能テストを統合する方法

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ICTテストと機能テストの統合

インサーキットテスト（ICT）と機能テスト（FCT）を統合するには、構造試験に対応しつつ、機能テストに必要な計測、スイッチング、制御、およびソフトウェアリソースを提供できるテストプラットフォームが必要です。プリント基板（PCB）によっては、これらのリソースには、高精度アナログ計測、デジタルI/O、スイッチング、フラッシュプログラミング、および機能計測が含まれる場合があります。

テストアーキテクチャは、これらのリソースを連続的なテストフローの中で連携させ、PCBが別のテストシステムに移行することなく、ICTからプログラミングおよび機能検証へと移行できるようにする必要があります。大量生産においては、テストカバレッジの拡大に伴いスループットを維持するために、プラットフォームは必要な拡張性と並列処理能力も備えている必要があります。

ハイスループット統合基板テストソリューション

キーサイト社のi7090ボードテストシステムは、ICTと機能テストに必要な計測機器およびリソースを統合したものです。そのアーキテクチャにより、単一のテスト環境内で、高精度なアナログ測定、デジタルI/O、スイッチング、高速フラッシュプログラミング、および機能計測をサポートしています。

これにより、PCBを同じテスト環境に置いたまま、1つのテストフロー内で構造的ICT、フラッシュプログラミング、および機能検証を実行することが可能になります。大量生産向けアプリケーションにおいて、i7090は最大20個のテストコアを同時に稼働させる大規模並列テストに対応しており、メーカーが生産スループットを維持しつつテストプロセスを統合するのに役立ちます。

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