ICTテストと機能テストを統合する方法

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ICTとファンクショナルテストの統合

インサーキットテスト（ICT）とファンクショナルテスト（FCT）を統合するには、構造的テストをサポートすると同時に、ファンクショナルテストに必要な計測器、スイッチング、制御、ソフトウェアリソースを提供するテストプラットフォームが必要です。プリント基板（PCB）に応じて、これらのリソースには、高精度アナログ測定、デジタルI/O、スイッチング、フラッシュプログラミング、ファンクショナル計測器などが含まれます。

テストアーキテクチャは、これらのリソースをシームレスなテストフロー内で調整し、PCBを別のテストシステムに移動させることなく、ICTからプログラミング、機能検証へと移行できるようにする必要があります。また、量産製造においては、テストカバレッジの向上に伴いスループットを維持するためのスケーラビリティと並列処理能力もプラットフォームに求められます。

ハイスループット統合基板テストソリューション

キーサイトのi7090ボードテストシステムは、ICTとファンクショナルテストに必要な計測器およびリソースを統合しています。そのアーキテクチャにより、高精度アナログ測定、デジタルI/O、スイッチング、高速フラッシュプログラミング、ファンクショナル計測器を単一のテスト環境内でサポートします。

これにより、PCBを同じテスト環境に保持したまま、構造的ICT、フラッシュプログラミング、機能検証を1つのテストフロー内で実行できます。大容量アプリケーション向けに、i7090は最大20個の並行テストコアによる超並列テストをサポートし、製造業者が生産スループットを維持しながらテストプロセスの統合を図ることを支援します。

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