Come integrare i test ICT e quelli funzionali
Consolidamento dei test ICT e funzionali
Il consolidamento dei test in-circuit (ICT) e dei test funzionali (FCT) richiede una piattaforma di test in grado di supportare i test strutturali, fornendo al contempo le risorse di strumentazione, commutazione, controllo e software necessarie per i test funzionali. A seconda del circuito stampato (PCB), tali risorse possono includere misurazioni analogiche di precisione, I/O digitali, commutazione, programmazione flash e strumentazione funzionale.
L'architettura di test deve coordinare queste risorse all'interno di un flusso di test continuo, consentendo al PCB di passare dall'ICT alla programmazione e alla verifica funzionale senza dover passare a un altro sistema di test. Per la produzione su larga scala, la piattaforma deve inoltre garantire la scalabilità e il parallelismo necessari a mantenere la produttività man mano che aumenta la copertura dei test.
Soluzione integrata per il collaudo di schede a elevata produttività
Il sistema di test su scheda Keysight i7090 combina la tecnologia ICT con la strumentazione e le risorse necessarie per i test funzionali. La sua architettura supporta misurazioni analogiche di precisione, I/O digitale, commutazione, programmazione flash ad alta velocità e strumentazione funzionale all’interno di un unico ambiente di test.
Ciò consente di eseguire il test strutturale delle TIC, la programmazione flash e la verifica funzionale nell'ambito di un unico flusso di test, mentre il PCB rimane nello stesso ambiente di test. Per le applicazioni ad alto volume, l'i7090 supporta test massicciamente paralleli con un massimo di 20 core di test simultanei, aiutando i produttori a consolidare i processi di test pur mantenendo la produttività.
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Sistema di test per schede i7090 massicciamente parallelo e scalabile
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