Como consolidar os testes de TIC e os testes funcionais
Consolidação dos testes de TIC e dos testes funcionais
A consolidação do teste em circuito (ICT) e do teste funcional (FCT) requer uma plataforma de teste capaz de suportar testes estruturais e, ao mesmo tempo, fornecer os recursos de instrumentação, comutação, controle e software necessários para os testes funcionais. Dependendo da placa de circuito impresso (PCB), esses recursos podem incluir medições analógicas de precisão, E/S digital, comutação, programação por flash e instrumentação funcional.
A arquitetura de teste deve coordenar esses recursos dentro de um fluxo contínuo de testes, permitindo que a placa de circuito impresso (PCB) passe do teste ICT para a programação e a verificação funcional sem precisar ser transferida para outro sistema de teste. Para a fabricação em grande volume, a plataforma também deve oferecer a escalabilidade e o paralelismo necessários para manter a produtividade à medida que a cobertura de teste aumenta.
Solução integrada de teste de placas de alto rendimento
O Sistema de Teste de Placas i7090 da Keysight combina a tecnologia ICT com a instrumentação e os recursos necessários para testes funcionais. Sua arquitetura oferece suporte a medições analógicas de precisão, E/S digital, comutação, programação de memória flash em alta velocidade e instrumentação funcional em um único ambiente de teste.
Isso permite que os testes estruturais de TIC, a programação flash e a verificação funcional sejam realizados em um único fluxo de teste, enquanto a placa de circuito impresso permanece no mesmo ambiente de teste. Para aplicações de alto volume, o i7090 oferece suporte a testes massivamente paralelos com até 20 núcleos de teste simultâneos, ajudando os fabricantes a consolidar os processos de teste e, ao mesmo tempo, manter o rendimento da produção.
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Sistema de teste de placa maciçamente paralela i7090
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