Wie man IKT- und Funktionstests konsolidiert
Konsolidierung von IKT und Funktionstests
Die Zusammenführung von In-Circuit-Tests (ICT) und Funktionstests (FCT) erfordert eine Testplattform, die sowohl Strukturtests unterstützt als auch die für Funktionstests benötigten Instrumentierungs-, Schalt-, Steuerungs- und Softwareressourcen bereitstellt. Abhängig von der Leiterplatte (PCB) können diese Ressourcen präzise analoge Messungen, digitale Ein-/Ausgänge, Schaltmechanismen, Flash-Programmierung und funktionelle Instrumentierung umfassen.
Die Testarchitektur muss diese Ressourcen in einem durchgängigen Testablauf koordinieren, sodass die Leiterplatte ohne Umstieg auf ein anderes Testsystem von der Informations- und Kommunikationstechnologie (IKT) zur Programmierung und Funktionsprüfung übergehen kann. Für die Serienfertigung muss die Plattform zudem die erforderliche Skalierbarkeit und Parallelität bieten, um den Durchsatz auch bei steigender Testabdeckung aufrechtzuerhalten.
Hochdurchsatz-Testlösung für integrierte Leiterplatten
Das Keysight i7090 Board Test System kombiniert ICT mit der Messtechnik und den Ressourcen, die für funktionale Tests erforderlich sind. Seine Architektur unterstützt Präzisions-Analogmessungen, digitale I/O, Umschaltung, Hochgeschwindigkeits-Flash-Programmierung und funktionale Messtechnik innerhalb einer einzigen Testumgebung.
Dies ermöglicht die Durchführung von struktureller ICT, Flash-Programmierung und funktionaler Verifikation innerhalb eines einzigen Testablaufs, während sich die Leiterplatte in derselben Testumgebung befindet. Für Anwendungen mit hohem Volumen unterstützt das i7090 massiv parallele Tests mit bis zu 20 gleichzeitigen Testkernen, wodurch Hersteller Testprozesse konsolidieren und gleichzeitig den Durchsatz in der Produktion aufrechtserhalten können.
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i7090 Massiv paralleles und skalierbares Board-Test-System
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Zusätzliche Ressourcen für die integrierte Leiterplattentestlösung mit hohem Durchsatz
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