Wie man IKT- und Funktionstests konsolidiert
Konsolidierung von IKT und Funktionstests
Die Zusammenführung von In-Circuit-Tests (ICT) und Funktionstests (FCT) erfordert eine Testplattform, die sowohl Strukturtests unterstützt als auch die für Funktionstests benötigten Instrumentierungs-, Schalt-, Steuerungs- und Softwareressourcen bereitstellt. Abhängig von der Leiterplatte (PCB) können diese Ressourcen präzise analoge Messungen, digitale Ein-/Ausgänge, Schaltmechanismen, Flash-Programmierung und funktionelle Instrumentierung umfassen.
Die Testarchitektur muss diese Ressourcen in einem durchgängigen Testablauf koordinieren, sodass die Leiterplatte ohne Umstieg auf ein anderes Testsystem von der Informations- und Kommunikationstechnologie (IKT) zur Programmierung und Funktionsprüfung übergehen kann. Für die Serienfertigung muss die Plattform zudem die erforderliche Skalierbarkeit und Parallelität bieten, um den Durchsatz auch bei steigender Testabdeckung aufrechtzuerhalten.
Hochdurchsatz-Testlösung für integrierte Leiterplatten
Das Keysight i7090 Board Test System vereint Informations- und Kommunikationstechnologie (IKT) mit den für Funktionstests erforderlichen Instrumenten und Ressourcen. Seine Architektur unterstützt präzise analoge Messungen, digitale Ein-/Ausgabe, Schaltvorgänge, Hochgeschwindigkeits-Flash-Programmierung und funktionelle Instrumentierung in einer einzigen Testumgebung.
Dies ermöglicht die Durchführung von Struktur-ICT, Flash-Programmierung und Funktionsprüfung innerhalb eines einzigen Testablaufs, während die Leiterplatte in derselben Testumgebung verbleibt. Für Anwendungen mit hohem Durchsatz unterstützt der i7090 massiv paralleles Testen mit bis zu 20 simultanen Testkernen und hilft Herstellern so, Testprozesse zu konsolidieren und gleichzeitig den Produktionsdurchsatz aufrechtzuerhalten.
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i7090 Massiv paralleles und skalierbares Board-Test-System
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Zusätzliche Ressourcen für die integrierte Leiterplattentestlösung mit hohem Durchsatz
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