Comment regrouper les tests informatiques et les tests fonctionnels

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Regroupement des tests informatiques et des tests fonctionnels

La consolidation des tests en circuit (ICT) et des tests fonctionnels (FCT) nécessite une plateforme de test capable de prendre en charge les tests structurels tout en fournissant les ressources d'instrumentation, de commutation, de contrôle et logicielles nécessaires aux tests fonctionnels. En fonction du circuit imprimé (PCB), ces ressources peuvent inclure des mesures analogiques de précision, des E/S numériques, des fonctions de commutation, la programmation flash et l'instrumentation fonctionnelle.

L'architecture de test doit coordonner ces ressources au sein d'un flux de test continu, permettant au circuit imprimé de passer du test ICT à la programmation et à la vérification fonctionnelle sans avoir à changer de système de test. Pour la production en grande série, la plateforme doit également offrir l'évolutivité et le parallélisme nécessaires pour maintenir le débit à mesure que la couverture de test augmente.

Solution de test de cartes intégrées à haut débit

Le système de test de cartes Keysight i7090 associe les technologies de l'information et de la communication (TIC) à l'instrumentation et aux ressources nécessaires aux tests fonctionnels. Son architecture prend en charge les mesures analogiques de précision, les E/S numériques, la commutation, la programmation flash à haute vitesse et l'instrumentation fonctionnelle au sein d'un environnement de test unique.

Cela permet de réaliser les tests structurels des TIC, la programmation flash et la vérification fonctionnelle au sein d’un même flux de test, tandis que le circuit imprimé reste dans le même environnement de test. Pour les applications à grand volume, l’i7090 prend en charge les tests massivement parallèles avec jusqu’à 20 cœurs de test simultanés, ce qui aide les fabricants à rationaliser leurs processus de test tout en maintenant le débit de production.

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