ICT 테스트와 기능 테스트를 통합하는 방법

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ICT 및 기능 테스트 통합

회로 내 테스트(ICT)와 기능 테스트(FCT)를 통합하려면 기능 테스트에 필요한 계측, 스위칭, 제어 및 소프트웨어 리소스를 제공하는 동시에 구조적 테스트를 지원할 수 있는 테스트 플랫폼이 필요합니다. 인쇄 회로 기판(PCB)에 따라 이러한 리소스에는 정밀 아날로그 측정, 디지털 I/O, 스위칭, 플래시 프로그래밍, 기능 계측이 포함될 수 있습니다.

테스트 아키텍처는 연속적인 테스트 흐름 내에서 이러한 리소스를 조율하여 PCB가 다른 테스트 시스템으로 이동하지 않고도 ICT에서 프로그래밍 및 기능 검증으로 전환할 수 있도록 해야 합니다. 대량 생산의 경우, 플랫폼은 테스트 커버리지가 증가함에도 처리량을 유지하는 데 필요한 확장성과 병렬성을 제공해야 합니다.

고속 처리 통합 보드 테스트 솔루션

키사이트 i7090 보드 테스트 시스템은 ICT와 기능 테스트에 필요한 계측 및 리소스를 결합합니다. 이 아키텍처는 단일 테스트 환경 내에서 정밀 아날로그 측정, 디지털 I/O, 스위칭, 고속 플래시 프로그래밍, 기능 계측을 지원합니다.

이를 통해 PCB가 동일한 테스트 환경에 유지되는 동안 구조적 ICT, 플래시 프로그래밍, 기능 검증을 하나의 테스트 흐름 내에서 수행할 수 있습니다. 대량 생산 애플리케이션의 경우, i7090은 최대 20개의 동시 테스트 코어로 대규모 병렬 테스트를 지원하여 제조업체가 생산 처리량을 유지하면서 테스트 프로세스를 통합할 수 있도록 돕습니다.

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