Cómo integrar las pruebas de TIC y las pruebas funcionales
Consolidación de las pruebas de TIC y funcionales
La integración de las pruebas en circuito (ICT) y las pruebas funcionales (FCT) requiere una plataforma de pruebas capaz de soportar las pruebas estructurales y, al mismo tiempo, proporcionar los recursos de instrumentación, conmutación, control y software necesarios para las pruebas funcionales. Dependiendo de la placa de circuito impreso (PCB), estos recursos pueden incluir mediciones analógicas de precisión, E/S digitales, conmutación, programación de memoria flash e instrumentación funcional.
La arquitectura de pruebas debe coordinar estos recursos dentro de un flujo de pruebas continuo, permitiendo que la placa de circuito impreso (PCB) pase de la prueba ICT a la programación y la verificación funcional sin tener que cambiar a otro sistema de pruebas. Para la fabricación a gran escala, la plataforma también debe ofrecer la escalabilidad y el paralelismo necesarios para mantener el rendimiento a medida que aumenta la cobertura de las pruebas.
Solución de pruebas de placas integradas de alto rendimiento
El sistema de pruebas de placas i7090 de Keysight combina la tecnología ICT con la instrumentación y los recursos necesarios para realizar pruebas funcionales. Su arquitectura permite realizar mediciones analógicas de precisión, E/S digitales, conmutación, programación de memoria flash a alta velocidad e instrumentación funcional, todo ello en un único entorno de pruebas.
Esto permite realizar pruebas estructurales de TIC, programación flash y verificación funcional dentro de un único flujo de pruebas, mientras la placa de circuito impreso permanece en el mismo entorno de pruebas. Para aplicaciones de gran volumen, el i7090 admite pruebas masivamente paralelas con hasta 20 núcleos de prueba simultáneos, lo que ayuda a los fabricantes a consolidar los procesos de prueba sin reducir el rendimiento de la producción.
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i7090 Sistema de pruebas de placas masivamente paralelo y escalable
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