Système de test de cartes massivement parallèle et évolutif i7090

Le Keysight i7090 est un système de test évolutif et massivement parallèle pouvant compter jusqu'à 20 cœurs, conçu pour la production à haut volume et à grande diversité, offrant une couverture de test optimisée et un temps d'exécution réduit.

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  • Fixture actuation

    Press down

  • Maximum parallel testing

    20

  • Maximum node count

    2560

  • System width

    1510 mm

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Points forts

Tests évolutifs et massivement parallèles pour une couverture complète des assemblages de circuits imprimés (PCBA)

Le Keysight i7090 (Q3000A) réunit les tests en circuit (ICT), les tests fonctionnels (FCT), la programmation en système (ISP) et le « boundary scan » au sein d’une seule et même plateforme évolutive. Conçu pour la production à grande variété et à haut volume, il permet aux fabricants de configurer des ressources de test pour des cartes en panneau ou des cartes comportant un nombre élevé de broches. Ses principales caractéristiques sont les suivantes :

  • TIC parallèles évolutives: configurez jusqu'à 20 cœurs de test pour tester plusieurs circuits imprimés assemblés (PCBA) simultanément, ou combinez plusieurs cœurs pour les cartes comportant un nombre plus élevé de broches.
  • Intégration FCT: utilisez OpenTAP et des instruments PXI pour ajouter des mesures fonctionnelles au flux de test.
  • ISP parallèle: prend en charge jusqu'à 160 canaux de programmation simultanés afin de réduire le temps de programmation.
  • Couverture étendue des défauts: combinez les tests analogiques, numériques et sans vecteur NanoVTEP avec le « boundary scan ».
  • Tête d'essai compacte: une tête d'essai de 600 mm de large permet de placer les équipements d'essai à proximité de l'interface du dispositif de fixation.
  • Production connectée: prise en charge de CFX/Hermes et de Keysight PathWave pour les données de fabrication et les flux de travail d'automatisation.