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Solution de test de cartes à haut débit avec évolutivité flexible
Les systèmes de test Expert Keysight Expert offrent un débit élevé et une grande évolutivité pour les assemblages de circuits imprimés complexes grâce à une architecture modulaire prenant en charge des milliers de canaux de test simultanés. Cela permet de tester rapidement et en parallèle des cartes de grande taille ou en nombre, afin d'accélérer les cycles de production. Doté de capacités intégrées de test en circuit, de test boundary scan et de test fonctionnel, le système fournit des diagnostics complets sur une seule et même plateforme. Sa configuration flexible et sa conception prête à l'emploi simplifient l'intégration dans la chaîne de fabrication, ce qui améliore l'efficacité, réduit les coûts et garantit la qualité des produits dans le cadre d'une production à forte mixité et à haut volume. Demandez dès aujourd'hui un devis pour un système de test Expert . Vous souhaitez en savoir plus sur cette solution ? Consultez les ressources ci-dessous.
Tests massivement parallèles
Exécutez simultanément des milliers de canaux de test afin de réduire considérablement la durée des tests et d'augmenter le débit pour les assemblages de circuits imprimés complexes et à haut volume.
Architecture modulaire et évolutive
Développez ou reconfigurez facilement le système pour répondre aux exigences de production en constante évolution, en prenant en charge à la fois les environnements de fabrication à forte mixité et à haut volume.
Couverture complète des tests
Intégrez les tests en circuit, les tests boundary scan et les tests fonctionnels dans une seule plateforme afin de détecter un large éventail de défauts et d'améliorer la qualité globale des produits.
Intégration flexible de l'automatisation
Prise en charge d'un large éventail d'interfaces et de protocoles d'automatisation, simplifiant l'intégration du système dans les lignes de production existantes et améliorant l'efficacité de la fabrication.
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System width
1510 mm
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Maximum node count
2560
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Maximum parallel testing
20
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Fixture actuation
Press down
Configuration type
Système de test de cartes massivement parallèle et évolutif i7090
- Révolutionner les tests de PCBA à haut volume
- Solutions de test parallèle pour l'électronique automobile
- Optimisez le débit dans la production de circuits imprimés à haut volume
Services et assistance
Innovez rapidement grâce à des plans d'assistance personnalisés et à des délais de réponse et d'exécution prioritaires.
Bénéficiez d'abonnements prévisibles basés sur un contrat de location et de solutions de gestion du cycle de vie complet afin d'atteindre plus rapidement vos objectifs commerciaux.
Bénéficiez d'un service haut de gamme en tant qu'abonné KeysightCare pour obtenir une assistance technique dédiée et bien plus encore.
Assurez-vous que votre système de test fonctionne conformément aux spécifications et respecte les normes locales et internationales.
Effectuez rapidement des mesures grâce à des formations internes dispensées par des instructeurs et à l'apprentissage en ligne.
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Questions fréquemment posées
Les systèmes de test parallèles conviennent à une large gamme de cartes de circuits imprimés (PCB), en particulier celles produites en grandes quantités où l'efficacité et le débit sont essentiels. Ces systèmes sont idéaux pour les cartes avec des configurations cohérentes et des points de test standardisés, car l'uniformité simplifie la conception des fixations et garantit un contact fiable entre plusieurs unités. Les cartes électroniques grand public, les modules de communication, les unités de commande automobiles et les cartes de contrôle industrielles bénéficient souvent des tests parallèles en raison de leurs cycles de fabrication répétitifs. Les cartes simples à couche unique et les assemblages complexes à couches multiples peuvent être testés en parallèle, à condition que le système de test prenne en charge les plages de mesure et les contrôles fonctionnels requis. Les cartes qui nécessitent une combinaison de tests en circuit (ICT) et de tests fonctionnels sont particulièrement adaptées à ces configurations, car chaque noyau de test peut gérer simultanément différentes séquences de test. En général, tout circuit imprimé dont la conception est stable, les exigences de test prévisibles et les volumes de production constants peut permettre de réaliser des économies de temps et d'argent significatives grâce aux systèmes de test parallèles.
Un système de test parallèle est conçu pour gérer des environnements de production à haut volume en permettant le test simultané d'un grand nombre de cartes de circuits imprimés (PCB). En fonction de la configuration du système, de la conception des fixations et de la complexité des cartes, un système de test parallèle peut tester jusqu'à plusieurs dizaines de cartes simultanément. Son architecture évolutive permet aux fabricants d'ajouter des cœurs de test à mesure que les demandes de production augmentent, garantissant ainsi une flexibilité maximale. Chaque noyau de test fonctionne de manière indépendante, ce qui signifie que différentes cartes peuvent subir des tests en circuit (ICT), des tests fonctionnels ou les deux, sans interférer avec les processus des autres. Cette capacité réduit considérablement la durée totale des tests par unité et maximise le débit, ce qui le rend idéal pour la production de circuits imprimés destinés à l'électronique grand public, à l'automobile et à l'industrie. Associé à un système de test parallèle, il offre une vitesse et une précision sans compromis, garantissant que chaque carte répond à des normes de qualité strictes avant de quitter la chaîne de production.
Oui, un système de test parallèle est hautement personnalisable afin de répondre à divers besoins de production. Sa conception modulaire et évolutive permet aux fabricants de configurer le nombre de cœurs de test, d'interfaces de fixation et de capacités de mesure en fonction des exigences spécifiques du produit et des volumes de production. Qu'il s'agisse de tester de petits lots de cartes complexes ou de grands volumes de circuits imprimés standardisés, le système peut être adapté pour répondre aux objectifs de débit et aux considérations budgétaires. Les options de conception de fixation flexibles s'adaptent à différentes tailles de cartes, configurations et configurations de points de test. Un système de test parallèle prend également en charge diverses méthodologies de test, notamment les tests en circuit (ICT), les tests fonctionnels ou une approche hybride, en fonction de l'application. De plus, les options d'intégration logicielle et d'automatisation facilitent l'adaptation du système à l'évolution des conceptions de produits ou aux nouveaux flux de travail de fabrication.
Un système de test parallèle permet de réduire les coûts globaux des tests en permettant de tester plusieurs cartes simultanément, plutôt que séquentiellement. Cette approche augmente considérablement le débit, ce qui permet de traiter plus rapidement un plus grand nombre d'unités et de réduire le coût par unité testée. En regroupant plusieurs opérations de test dans une seule configuration, les fabricants peuvent minimiser le besoin d'équipements supplémentaires, ce qui réduit les investissements en capital. Les coûts de main-d'œuvre sont également réduits, car moins d'opérateurs sont nécessaires pour gérer des volumes de tests identiques, voire supérieurs. De plus, un système de test parallèle optimise l'utilisation des ressources existantes, garantissant une meilleure utilisation des équipements et moins de temps d'inactivité. L'efficacité ainsi gagnée raccourcit les cycles de production, accélère la mise sur le marché et permet aux fabricants de faire face aux pics de demande sans dépenses supplémentaires importantes. Dans l'ensemble, les tests parallèles permettent de réaliser des économies substantielles en améliorant la productivité, en réduisant les frais généraux et en maximisant le retour sur investissement des équipements et de la main-d'œuvre dans les environnements de fabrication à grand volume.