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I sistemi di test Expert Keysight Expert offrono un'elevata produttività e scalabilità per assemblaggi PCB complessi grazie a un'architettura modulare in grado di supportare migliaia di canali di test simultanei. Ciò consente di eseguire test rapidi e paralleli su schede di grandi dimensioni o su più schede, accelerando così i cicli di produzione. Grazie alle funzionalità integrate di test in-circuit, boundary scan e funzionali, il sistema fornisce una diagnostica completa in un'unica piattaforma. La sua configurazione flessibile e il design pronto all'uso semplificano l'integrazione nella produzione, aumentando l'efficienza, riducendo i costi e garantendo la qualità del prodotto nella produzione ad alta varietà e ad alto volume. Richiedete oggi stesso un preventivo per un sistema di test Expert . Volete saperne di più su questa soluzione? Esplorate le risorse qui sotto.
Esegui migliaia di canali di test contemporaneamente per ridurre drasticamente i tempi di test e aumentare la produttività per assemblaggi PCB complessi e ad alto volume.
Espandi o riconfigura facilmente il sistema per adattarlo alle esigenze di produzione in continua evoluzione, supportando sia ambienti di produzione altamente diversificati che ad alto volume.
Integra test in-circuit, boundary scan e funzionali in un'unica piattaforma per rilevare un'ampia gamma di guasti e migliorare la qualità complessiva del prodotto.
Supporta un'ampia gamma di interfacce e protocolli di automazione, semplificando l'integrazione del sistema nelle linee di produzione esistenti e migliorando l'efficienza produttiva.
System width
1510 mm
Maximum node count
2560
Maximum parallel testing
20
Fixture actuation
Press down
Q3000A
Keysight i7090 è un sistema di test scalabile e massicciamente parallelo con un massimo di 20 core, progettato per la produzione ad alto volume e alta varietà, che offre una copertura di test ottimizzata e tempi di esecuzione ridotti.
Keysight i7090 è una piattaforma versatile e scalabile per il collaudo di PCBA. Combina diverse metodologie di collaudo, quali In-Circuit Test (ICT), Functional Test (FCT), Flash Programming, LED Testing e Boundary Scan. È progettata per adattarsi ad ambienti di produzione ad alta varietà e volumi elevati, consentendo ai produttori di scalare la copertura dei test e configurare le risorse in modo efficiente. Le caratteristiche principali includono:
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
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Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
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I sistemi di test paralleli sono adatti per un'ampia gamma di circuiti stampati (PCB), in particolare quelli prodotti in grandi volumi dove l'efficienza e la produttività sono fondamentali. Questi sistemi sono ideali per schede con layout coerenti e punti di test standardizzati, poiché l'uniformità semplifica la progettazione dei dispositivi di fissaggio e garantisce un contatto affidabile su più unità. Le schede elettroniche di consumo, i moduli di comunicazione, le unità di controllo automobilistiche e le schede di controllo industriali spesso traggono vantaggio dai test paralleli grazie ai loro cicli di produzione ripetitivi. Sia le schede semplici a singolo strato che gli assemblaggi complessi multistrato possono essere testati in parallelo, a condizione che il sistema di test supporti gli intervalli di misurazione e i controlli funzionali richiesti. Le schede che richiedono una combinazione di test in-circuit (ICT) e test funzionali sono particolarmente adatte a queste configurazioni, poiché ogni nucleo di test può gestire contemporaneamente diverse sequenze di test. In generale, qualsiasi PCB con un design stabile, requisiti di test prevedibili e volumi di produzione costanti può ottenere un notevole risparmio in termini di costi e tempo con i sistemi di test paralleli.
Un sistema di test parallelo è progettato per gestire ambienti di produzione ad alto volume, consentendo il test simultaneo di un gran numero di circuiti stampati (PCB). A seconda della configurazione del sistema, del design dei dispositivi di fissaggio e della complessità delle schede, un sistema di test parallelo può testare fino a diverse decine di schede contemporaneamente. La sua architettura scalabile consente ai produttori di aggiungere core di test man mano che la domanda di produzione cresce, garantendo la massima flessibilità. Ogni nucleo di test funziona in modo indipendente, il che significa che schede diverse possono essere sottoposte a test in-circuit (ICT), test funzionali o entrambi, senza interferire con i processi reciproci. Questa capacità riduce significativamente il tempo totale di test per unità e massimizza la produttività, rendendolo ideale per la produzione di PCB per l'elettronica di consumo, l'automotive e l'industria. La combinazione di questo con un sistema di test parallelo offre velocità e precisione senza compromessi, garantendo che ogni scheda soddisfi rigorosi standard di qualità prima di lasciare la linea di produzione.
Sì, un sistema di test parallelo è altamente personalizzabile per soddisfare diverse esigenze di produzione. Il suo design modulare e scalabile consente ai produttori di configurare il numero di core di test, interfacce di fissaggio e capacità di misurazione in base ai requisiti specifici del prodotto e ai volumi di produzione. Che si tratti di testare piccoli lotti di schede complesse o grandi volumi di PCB standardizzati, il sistema può essere personalizzato per soddisfare gli obiettivi di produttività e le considerazioni di budget. Le opzioni di progettazione flessibili dei dispositivi di fissaggio si adattano a diverse dimensioni delle schede, layout e configurazioni dei punti di test. Un sistema di test parallelo supporta anche varie metodologie di test, tra cui il test in-circuit (ICT), il test funzionale o un approccio ibrido, a seconda dell'applicazione. Inoltre, le opzioni di integrazione software e automazione rendono facile l'adattamento del sistema ai progetti di prodotto in evoluzione o ai nuovi flussi di lavoro di produzione.
Un sistema di test parallelo contribuisce a ridurre i costi complessivi dei test consentendo di testare più schede contemporaneamente, anziché in sequenza. Questo approccio aumenta notevolmente la produttività, consentendo di elaborare più unità rapidamente e riducendo il costo per unità testata. Consolidando più operazioni di test in un'unica configurazione, i produttori possono ridurre al minimo la necessità di attrezzature aggiuntive, riducendo gli investimenti di capitale. Anche i costi di manodopera sono ridotti, poiché sono necessari meno operatori per gestire volumi di test uguali o addirittura superiori. Inoltre, un sistema di test parallelo ottimizza l'uso delle risorse esistenti, garantendo un maggiore utilizzo delle attrezzature e tempi di inattività ridotti. L'efficienza ottenuta accorcia i cicli di produzione, accelera il time-to-market e consente ai produttori di gestire i picchi di domanda senza spese aggiuntive significative. Nel complesso, i test paralleli consentono un notevole risparmio sui costi migliorando la produttività, riducendo le spese generali e massimizzando il ritorno sugli investimenti in attrezzature e manodopera in ambienti di produzione ad alto volume.