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Hochdurchsatz-Platinentestlösung mit flexibler Skalierbarkeit
Parallele Expert-Testsysteme von Keysight bieten hohen Durchsatz und Skalierbarkeit für komplexe PCB-Baugruppen durch eine modulare Architektur, die Tausende gleichzeitige Testkanäle unterstützt. Dies ermöglicht schnelle, parallele Tests großer oder mehrerer Platinen, um Produktionszyklen zu beschleunigen. Dank integrierter In-Circuit-, Boundary-Scan- und Funktionstestfunktionen bietet das System umfassende Diagnosen in einer einzigen Plattform. Seine flexible Konfiguration und das sofort einsatzbereite Design vereinfachen die Integration in die Fertigung, steigern die Effizienz, senken die Kosten und gewährleisten die Produktqualität in der Produktion mit hoher Variantenvielfalt und hohen Stückzahlen. Fordern Sie noch heute ein Angebot für ein paralleles Expert-Testsystem an. Möchten Sie mehr über diese Lösung erfahren? Entdecken Sie die Ressourcen unten.
Massiv paralleles Testen
Durch den gleichzeitigen Betrieb von Tausenden von Testkanälen lässt sich die Testzeit drastisch reduzieren und der Durchsatz für komplexe und in großen Stückzahlen gefertigte Leiterplattenbaugruppen erhöhen.
Modulare, skalierbare Architektur
Das System lässt sich einfach erweitern oder neu konfigurieren, um den sich ändernden Produktionsanforderungen gerecht zu werden und unterstützt sowohl Produktionsumgebungen mit hoher Produktvielfalt als auch mit hohem Produktionsvolumen.
Umfassende Testabdeckung
Durch die Integration von In-Circuit-, Boundary-Scan- und Funktionstests auf einer einzigen Plattform lassen sich vielfältige Fehler erkennen und die Gesamtproduktqualität verbessern.
Flexible Automatisierungsintegration
Unterstützung einer breiten Palette von Automatisierungsschnittstellen und -protokollen, wodurch die Systemintegration in bestehende Produktionslinien vereinfacht und die Fertigungseffizienz gesteigert wird.
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System width
1510 mm
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Maximum node count
2560
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Maximum parallel testing
20
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Fixture actuation
Press down
Typische Konfiguration
i7090 Massiv paralleles und skalierbares Board-Test-System
- Revolutionierung der PCBA-Prüfung in großen Stückzahlen
- Parallele Testlösungen für Automobilelektronik
- Maximierung des Durchsatzes in der Leiterplattenfertigung mit hohem Durchsatz
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
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Häufig gestellte Fragen
Parallele Testsysteme eignen sich für eine Vielzahl von Leiterplatten (PCBs), insbesondere für solche mit hohen Stückzahlen, bei denen Effizienz und Durchsatz von entscheidender Bedeutung sind. Diese Systeme sind ideal für Platinen mit einheitlichen Layouts und standardisierten Testpunkten, da die Gleichförmigkeit das Fixturdesign vereinfacht und einen zuverlässigen Kontakt über mehrere Prüflinge hinweg gewährleistet. Platinen für Unterhaltungselektronik, Kommunikationsmodule, Automobil-Steuergeräte und industrielle Steuerplatinen profitieren aufgrund ihrer repetitiven Fertigungsserien häufig von Paralleltests. Sowohl einfache einseitige Platinen als auch komplexe mehrschichtige Baugruppen können parallel getestet werden, vorausgesetzt, das Testsystem unterstützt die erforderlichen Messbereiche und Funktionsprüfungen. Platinen, die eine Kombination aus In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstest erfordern, eignen sich besonders für diese Aufbauten, da jeder Testkern verschiedene Testsequenzen gleichzeitig abarbeiten kann. Im Allgemeinen kann jede Leiterplatte mit einem stabilen Design, vorhersehbaren Testanforderungen und konstanten Produktionsvolumina durch parallele Testsysteme erhebliche Kosten- und Zeiteinsparungen erzielen.
Ein Paralleltestsystem ist für die Serienfertigung konzipiert und ermöglicht die gleichzeitige Prüfung einer großen Anzahl von Leiterplatten. Je nach Systemkonfiguration, Testvorrichtung und Komplexität der Leiterplatten kann ein Paralleltestsystem bis zu mehrere Dutzend Leiterplatten gleichzeitig prüfen. Dank seiner skalierbaren Architektur können Hersteller bei steigendem Produktionsbedarf Testkerne hinzufügen und so maximale Flexibilität gewährleisten. Jeder Testkern arbeitet unabhängig, sodass verschiedene Leiterplatten In-Circuit-Tests (ICT), Funktionstests oder beides durchlaufen können, ohne sich gegenseitig zu beeinträchtigen. Diese Eigenschaft reduziert die Testzeit pro Einheit erheblich und maximiert den Durchsatz. Dadurch eignet sich das System ideal für die Leiterplattenfertigung in der Unterhaltungselektronik, der Automobilindustrie und der Industrie. In Kombination mit einem Paralleltestsystem bietet es Geschwindigkeit und kompromisslose Genauigkeit und stellt sicher, dass jede Leiterplatte die strengen Qualitätsstandards erfüllt, bevor sie die Produktionslinie verlässt.
Ja, ein paralleles Testsystem ist hochgradig anpassbar, um den unterschiedlichsten Produktionsanforderungen gerecht zu werden. Sein modulares und skalierbares Design ermöglicht es Herstellern, die Anzahl der Testkerne, Fixture-Schnittstellen und Messfunktionen basierend auf spezifischen Produktanforderungen und Produktionsvolumina zu konfigurieren. Ganz gleich, ob kleine Chargen komplexer Platinen oder große Stückzahlen standardisierter Leiterplatten getestet werden – das System lässt sich exakt auf Durchsatzziele und Budgetvorgaben abstimmen. Flexible Optionen für das Fixturdesign berücksichtigen unterschiedliche Platinengrößen, Layouts und Testpunktkonfigurationen. Ein paralleles Testsystem unterstützt zudem verschiedene Testmethoden, darunter In-Circuit-Tests (ICT), Funktionstests oder einen Hybridansatz, je nach Anwendung. Darüber hinaus erleichtern Softwareintegrations- und Automatisierungsoptionen die Anpassung des Systems an sich entwickelnde Produktdesigns oder neue Fertigungsabläufe.
Ein paralleles Testsystem senkt die Testkosten erheblich, da mehrere Leiterplatten gleichzeitig statt nacheinander getestet werden können. Dadurch erhöht sich der Durchsatz deutlich, mehr Einheiten können schneller bearbeitet und die Kosten pro getesteter Einheit gesenkt werden. Durch die Zusammenführung mehrerer Testvorgänge in einem einzigen System minimieren Hersteller den Bedarf an zusätzlicher Ausrüstung und reduzieren so die Investitionskosten. Auch die Personalkosten sinken, da weniger Bediener für das gleiche oder sogar höhere Testvolumen benötigt werden. Darüber hinaus optimiert ein paralleles Testsystem die Nutzung vorhandener Ressourcen, was eine höhere Anlagenauslastung und weniger Leerlaufzeiten gewährleistet. Die erzielte Effizienz verkürzt die Produktionszyklen, beschleunigt die Markteinführung und ermöglicht es Herstellern, Nachfragespitzen ohne signifikante Zusatzkosten zu bewältigen. Insgesamt führt das parallele Testen zu erheblichen Kosteneinsparungen durch höhere Produktivität, geringere Gemeinkosten und eine maximale Rentabilität der Investitionen in Ausrüstung und Personal in der Serienfertigung.