- Überblick
- Alle Modelle
- Unterstützung
Hochdurchsatz-Platinentestlösung mit flexibler Skalierbarkeit
Keysight Expert Parallele Testsysteme bieten hohen Durchsatz und Skalierbarkeit für komplexe Leiterplattenbestückungen dank einer modularen Architektur mit Unterstützung für Tausende simultaner Testkanäle. Dies ermöglicht schnelles, paralleles Testen großer oder mehrerer Leiterplatten und beschleunigt so die Produktionszyklen. Mit integrierten In-Circuit-, Boundary-Scan- und Funktionstestfunktionen bietet das System umfassende Diagnosemöglichkeiten auf einer einzigen Plattform. Die flexible Konfiguration und das sofort einsatzbereite Design vereinfachen die Fertigungsintegration, steigern die Effizienz, senken die Kosten und sichern die Produktqualität in der Serienfertigung mit hoher Variantenvielfalt. Fordern Sie ein Angebot an. Expert Paralleles Testsystem heute. Möchten Sie mehr über diese Lösung erfahren? Entdecken Sie die folgenden Ressourcen.
Massiv paralleles Testen
Durch den gleichzeitigen Betrieb von Tausenden von Testkanälen lässt sich die Testzeit drastisch reduzieren und der Durchsatz für komplexe und in großen Stückzahlen gefertigte Leiterplattenbaugruppen erhöhen.
Modulare, skalierbare Architektur
Das System lässt sich einfach erweitern oder neu konfigurieren, um den sich ändernden Produktionsanforderungen gerecht zu werden und unterstützt sowohl Produktionsumgebungen mit hoher Produktvielfalt als auch mit hohem Produktionsvolumen.
Umfassende Testabdeckung
Durch die Integration von In-Circuit-, Boundary-Scan- und Funktionstests auf einer einzigen Plattform lassen sich vielfältige Fehler erkennen und die Gesamtproduktqualität verbessern.
Flexible Automatisierungsintegration
Unterstützung einer breiten Palette von Automatisierungsschnittstellen und -protokollen, wodurch die Systemintegration in bestehende Produktionslinien vereinfacht und die Fertigungseffizienz gesteigert wird.
-
System width
1510 mm
-
Maximum node count
2560
-
Maximum parallel testing
20
-
Fixture actuation
Press down
Typische Konfiguration
i7090 Massiv paralleles und skalierbares Board-Test-System
Dienstleistungen und Support
Innovieren Sie im Handumdrehen mit maßgeschneiderten Supportplänen und priorisierten Reaktions- und Bearbeitungszeiten.
Profitieren Sie von planbaren, leasingbasierten Abonnements und umfassenden Lifecycle-Management-Lösungen – damit Sie Ihre Geschäftsziele schneller erreichen.
Als KeysightCare-Abonnent profitieren Sie von einem erweiterten Service mit zuverlässiger technischer Unterstützung und vielem mehr.
Stellen Sie sicher, dass Ihr Testsystem den Spezifikationen entspricht und sowohl lokale als auch globale Standards erfüllt.
Schnelle Messungen dank hauseigener, von Ausbildern geleiteter Schulungen und E-Learning.
Laden Sie die Keysight-Software herunter oder aktualisieren Sie Ihre Software auf die neueste Version.
Häufig gestellte Fragen
Parallele Testsysteme eignen sich für eine Vielzahl von Leiterplatten, insbesondere für solche, die in großen Stückzahlen gefertigt werden und bei denen Effizienz und Durchsatz entscheidend sind. Diese Systeme sind ideal für Leiterplatten mit einheitlichem Layout und standardisierten Testpunkten, da die Einheitlichkeit die Konstruktion der Testvorrichtung vereinfacht und einen zuverlässigen Kontakt zwischen mehreren Einheiten gewährleistet. Leiterplatten für Unterhaltungselektronik, Kommunikationsmodule, Steuergeräte für die Automobilindustrie und industrielle Controller-Platinen profitieren aufgrund ihrer wiederholten Fertigungsläufe häufig von parallelen Tests. Sowohl einfache, einlagige Leiterplatten als auch komplexe, mehrlagige Baugruppen können parallel getestet werden, sofern das Testsystem die erforderlichen Messbereiche und Funktionsprüfungen unterstützt. Leiterplatten, die eine Kombination aus In-Circuit-Test (ICT) und Funktionstests erfordern, eignen sich besonders für diese Systeme, da jeder Testkern unterschiedliche Testsequenzen gleichzeitig verarbeiten kann. Generell lassen sich mit parallelen Testsystemen für jede Leiterplatte mit einem stabilen Design, vorhersehbaren Testanforderungen und gleichbleibenden Produktionsmengen erhebliche Kosten- und Zeiteinsparungen erzielen.
Ein Paralleltestsystem ist für die Serienfertigung konzipiert und ermöglicht die gleichzeitige Prüfung einer großen Anzahl von Leiterplatten. Je nach Systemkonfiguration, Testvorrichtung und Komplexität der Leiterplatten kann ein Paralleltestsystem bis zu mehrere Dutzend Leiterplatten gleichzeitig prüfen. Dank seiner skalierbaren Architektur können Hersteller bei steigendem Produktionsbedarf Testkerne hinzufügen und so maximale Flexibilität gewährleisten. Jeder Testkern arbeitet unabhängig, sodass verschiedene Leiterplatten In-Circuit-Tests (ICT), Funktionstests oder beides durchlaufen können, ohne sich gegenseitig zu beeinträchtigen. Diese Eigenschaft reduziert die Testzeit pro Einheit erheblich und maximiert den Durchsatz. Dadurch eignet sich das System ideal für die Leiterplattenfertigung in der Unterhaltungselektronik, der Automobilindustrie und der Industrie. In Kombination mit einem Paralleltestsystem bietet es Geschwindigkeit und kompromisslose Genauigkeit und stellt sicher, dass jede Leiterplatte die strengen Qualitätsstandards erfüllt, bevor sie die Produktionslinie verlässt.
Ja, ein Paralleltestsystem ist hochgradig anpassbar und erfüllt somit vielfältige Produktionsanforderungen. Dank seines modularen und skalierbaren Designs können Hersteller die Anzahl der Testkerne, Schnittstellen für die Testvorrichtungen und Messfunktionen produktspezifisch konfigurieren. Ob Kleinserien komplexer Leiterplatten oder große Mengen standardisierter Leiterplatten – das System lässt sich optimal an Durchsatzziele und Budgetvorgaben anpassen. Flexible Vorrichtungsdesigns ermöglichen die Verwendung unterschiedlicher Leiterplattengrößen, Layouts und Testpunktkonfigurationen. Je nach Anwendung unterstützt ein Paralleltestsystem zudem verschiedene Testmethoden, darunter In-Circuit-Testing (ICT), Funktionstests oder Hybridverfahren. Darüber hinaus erleichtern Softwareintegration und Automatisierungsoptionen die Anpassung des Systems an sich ändernde Produktdesigns oder neue Fertigungsabläufe.
Ein paralleles Testsystem senkt die Testkosten erheblich, da mehrere Leiterplatten gleichzeitig statt nacheinander getestet werden können. Dadurch erhöht sich der Durchsatz deutlich, mehr Einheiten können schneller bearbeitet und die Kosten pro getesteter Einheit gesenkt werden. Durch die Zusammenführung mehrerer Testvorgänge in einem einzigen System minimieren Hersteller den Bedarf an zusätzlicher Ausrüstung und reduzieren so die Investitionskosten. Auch die Personalkosten sinken, da weniger Bediener für das gleiche oder sogar höhere Testvolumen benötigt werden. Darüber hinaus optimiert ein paralleles Testsystem die Nutzung vorhandener Ressourcen, was eine höhere Anlagenauslastung und weniger Leerlaufzeiten gewährleistet. Die erzielte Effizienz verkürzt die Produktionszyklen, beschleunigt die Markteinführung und ermöglicht es Herstellern, Nachfragespitzen ohne signifikante Zusatzkosten zu bewältigen. Insgesamt führt das parallele Testen zu erheblichen Kosteneinsparungen durch höhere Produktivität, geringere Gemeinkosten und eine maximale Rentabilität der Investitionen in Ausrüstung und Personal in der Serienfertigung.