Column Control DTX
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6Gコンポーネントの特性評価方法

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誤差を生じさせないサブヘルツ周波数でのコンポーネントの特性評価

6G用のサブヘルツコンポーネントの特性評価には、包括的なSパラメータ以上のものが必要です。 雑音指数、利得圧縮、 エラーベクトル振幅だけでなく、他の多くの変調測定がシステム内の部品性能を予測するための完全な図を作成するために必要となります。 このようなサブヘルツ周波数におけるコンポーネントを正確に特性評価するためには、タイムドメインと周波数ドメインの測定が不可欠です。

6Gサブヘルツコンポーネントの特性評価には、変調された広帯域信号源と、Sパラメータ測定と従来の変調測定の両方が可能なベクトル・ネットワーク・アナライザが必要です。 これらのシステムは、サブヘルツ周波数での位相ノイズを低減するために、完全にクロックロックが必要です。 最後に、テストシステムと治具がこれらのサブヘルツ信号に及ぼす影響を考慮すると、被試験デバイス(DUT)入力基準面において理想的なテスト信号を確保するために、信号源の校正は極めて重要となります。

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N5245B

6Gコンポーネントの特性評価ソリューション

サブヘルツコンポーネントの特性評価には、新しい6G周波数で誤差を発生させずにSパラメータと変調測定を正確に実行できる測定器が必要です。 キーサイト6Gベクトルコンポーネント解析ソリューションは、4ポートPNA-Xネットワーク・アナライザ、テスト・セット・コントローラ、任意波形発生器、外部アップ／ダウンコンバータで構成されています。 これらの製品を組み合わせることで、サブヘルツコンポーネントの特性評価を効率化し、1つのテストシステムでタイムドメインと周波数ドメインの測定を行ってシステム性能を予測することができます。
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