5G用の低損失材料の特性評価方法

PNAミリ波システム
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低損失材料測定によりミリ波信号損失を最小限に

5G通信用の低損失材料の特性を評価するには、共振キャビティー測定法を使用する必要があります。 この方法では、ネットワーク・アナライザが共振周波数とQ値、高調波減衰不足発振器の共振動作、および共振キャビティフィクスチャを測定します。 その後、アナライザを使用して、材料によって引き起こされた周波数とQ値の変化を再測定します。 この方法では、周波数ポイント1個の応答が得られます。

また、周波数帯によって選択される他のフィクスチャで、低損失材料の研究を行うこともできます。 低い周波数では、スプリットポスト誘電体共振 (SPDR)および摂動空洞共振器フィクスチャが用いられます。 これらのフィクスチャは、LTCC(低温同時焼成セラミックス:Low Temperature Co-Fired Ceramic)基板、強誘電体膜、超薄膜、5 mlパウダーの測定に適しています。 ミリ波(mmWave)周波数用には、スプリットシリンダー、ファブリーペロー、または平衡型円盤共振器が推奨されます。

ミリ波材料の測定ソリューション

5G用の低損失材料の測定ソリューション

ミリ波アプリケーション用低損失材料の特性評価には、材料の電磁特性の理解が必要です。 キーサイトのN1500A材料測定スイートとN5291A性能ネットワーク・アナライザ(PNA)ミリ波ネットワーク・アナライザは、5Gで使用される低損失材料を低周波およびミリ波周波数帯で正確かつ繰り返し測定することができます。 PNAは900 Hz~120 GHzで動作し、ダイナミックレンジは110 dB以上、トレースノイズは0.003 dB RMSです。

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