6G 부품을 특성화하는 방법

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오류 없이 Sub-THz 주파수에서 구성 요소 특성화

6G용 sub-THz 컴포넌트를 포괄적으로 특성화하려면 S-파라미터 이상의 측정이 필요합니다. 시스템 내 컴포넌트 성능을 예측하는 완전한 그림을 만들기 위해서는 잡음 지수, 이득 압축, 오류 벡터 크기뿐만 아니라 다양한 변조 측정값이 필요합니다. 이러한 sub-THz 주파수에서 컴포넌트를 정확하게 특성화하려면 시간 영역 및 주파수 영역 측정이 필수적입니다.

6G 서브-THz 컴포넌트 특성화를 위한 설정에는 S-파라미터 측정과 기존 변조 측정을 모두 수행할 수 있는 변조된 광대역 신호 소스 및 벡터 네트워크 분석기가 필요합니다. 이러한 시스템은 서브-THz 주파수에서 위상 노이즈를 줄이기 위해 완전히 클록 동기화되어야 합니다. 마지막으로, 테스트 시스템 및 모든 고정 장치가 이러한 서브-THz 신호에 미칠 수 있는 영향을 고려할 때, DUT(테스트 대상 디바이스) 입력 기준면에서 이상적인 테스트 신호를 보장하기 위해 소스 교정이 중요합니다.

6G 부품 특성 분석 솔루션

서브-THz 컴포넌트 특성화에는 새로운 6G 주파수에서 오류 없이 S-파라미터 및 변조 측정을 정확하게 수행할 수 있는 장비가 필요합니다. 키사이트 6G 벡터 컴포넌트 분석 솔루션은 4포트 PNA-X 네트워크 분석기, 테스트 세트 컨트롤러, 임의 파형 발생기 및 외부 업/다운컨버터로 구성됩니다. 이러한 제품들은 함께 작동하여 단일 테스트 시스템에서 시간 및 주파수 도메인 측정을 통해 서브-THz 컴포넌트 특성화를 간소화하고 시스템 성능을 예측합니다.
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