如何在設計階段進行頻率掃描測試

專業級桌上型波形與函數產生器
+ 專業桌上型波形與函數產生器

涵蓋設計範圍的頻率響應特性分析

頻率掃描測試用於設計階段,以在定義的範圍內施加頻率變化的激勵訊號,並觀察電路在輸入訊號通過該範圍時的響應。此設定通常需要波形產生器來建立掃描訊號,以及量測儀器來擷取增益、衰減、諧振或其他隨頻率變化而產生的響應變化。

掃描訊號施加到待測裝置 (DUT),同時示波器、分析儀或其他量測儀器記錄掃描期間的輸出行為。雙通道操作還可支援相關的參考或觸發訊號,以滿足設計階段特性分析中所需的時序對準或相關激勵訊號。

頻率掃描設計方案

執行頻率掃描測試需要可控制的激勵訊號源,能夠在定義的範圍內改變頻率,同時保持可重複的量測輸出條件。專業桌上型波形與函數產生器透過產生掃描訊號和任意波形來支援此工作流程,這些波形可在設計特性分析期間進行整形、排序和重播。雙通道輸出、120 MHz 頻寬、任意波形功能、排序支援和 1 GSa/s 取樣率,使此方法非常適合基於掃描的響應分析。這有助於工程師在早期設計工作中,於受控的實驗室條件下觀察增益變化、通帶行為、諧振和滾降。

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