設計段階における周波数スイープ試験の実施方法

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+ Expert ベンチトップ任意波形／ファンクション・ジェネレータ

設計範囲全体で周波数応答を特性評価する

周波数掃引テストは設計中に使用され、定義された範囲で周波数変化する刺激を印加し、入力がその範囲を移動するにつれて回路がどのように応答するかを観測します。このセットアップでは通常、掃引信号を作成するための波形ジェネレータと、周波数が変化するにつれてゲイン、減衰、共振、またはその他の応答変化を捕捉するための測定器が必要です。

掃引信号は被試験デバイスに印加され、オシロスコープ、アナライザ、またはその他の測定器が掃引全体にわたる出力動作を記録します。デュアルチャネル動作は、設計段階の特性評価中にタイミングアライメントまたは相関刺激が必要な場合、関連するリファレンスまたはトリガ信号もサポートできます。

周波数スイープ設計ソリューション

周波数掃引テストを実行するには、測定のために再現可能な出力条件を維持しながら、定義された範囲で周波数を変化させることができる制御可能な刺激源が必要です。Expert ベンチトップ任意波形／ファンクション・ジェネレータは、設計特性評価中に整形、シーケンス、および再生が可能な掃引信号と任意波形を生成することで、このワークフローをサポートします。デュアルチャネル出力、120 MHz帯域幅、任意波形機能、シーケンスサポート、および1 GSa/sのサンプルレートは、このアプローチを掃引ベースの応答解析に非常に適したものにします。これにより、エンジニアは初期設計作業中に、制御されたベンチ条件下でゲイン変動、パスバンド動作、共振、およびロールオフを観測できます。

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