- 概述
- 所有型號
- 支援
用於光學測試工作流程中精確波長掃描的雷射器
是德科技XP4級可調諧雷射光源提供高解析度、窄線寬的光學訊號，能精確表徵光子元件與系統的波長依賴性性能。本系列可調諧雷射專為掃描或階躍波長測試設計，具備卓越穩定性、低雜訊及精密調諧控制能力，是測試濾波器、調變器與光子積體電路的理想選擇。 憑藉寬調諧範圍與可程式化掃描功能，您可輕鬆將其整合至自動化光學測試系統。根據所需的絕對波長精度與調諧範圍，選擇符合需求的可調諧雷射光源。您可選用熱門標準配置，或依應用需求客製專屬規格。
窄線寬穩定性
提供超潔淨的光學輸出，具備低相位雜訊與高相干性，可精確測試窄頻光學元件。
寬調諧範圍
涵蓋1260–1650奈米範圍內高達200奈米的波長，適用於測試常見電信頻段及超出頻段的應用。
快速線性掃描
可程式化的高速波長掃描功能可縮短測試時間，並提升波長依賴性損耗與反射率測量精度。
系統整合
專為系統級應用設計，支援SCPI指令並具備模組化相容性，以簡化自動化光學測試流程。
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Absolute wavelength accuracy
±1.5 pm 至 ±10 pm
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Tunability
Continuous sweep, Stepped
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信號 SSE 比
80 dB/nm, 75 dB/nm
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最大功率
13 dBm 至 19.4 dBm
最熱門配置
XP4級可調諧雷射器，高功率且低自激振盪（SSE）
XP4級可調諧雷射器，高功率且低自激振盪（SSE）
XP4級可調諧雷射器，具備高功率與最低固態輻射（SSE）特性
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
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確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
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常見問題
可調諧雷射器是一種精密光源，其輸出波長可在定義的光譜範圍內連續或分步調整。這種橫跨波長的掃描能力，使可調諧雷射器成為光學元件測試、光纖通訊系統及進階 研究不可或缺的工具。 在測試環境中，可調諧雷射用於探測各類裝置的光譜響應特性，例如光學濾波器、多工器/解多工器（MUX/DEMUX）、波導、調變器及光子積體電路（PICs）。
透過將雷射調諧至寬廣波段範圍（通常涵蓋C波段、L波段及O波段），工程師能以高精度檢測光學元件的插入損耗、中心波長、通道對準度及光譜平坦度。現代可調諧雷射器更支援自動波長掃描、高解析度步進控制及觸發式測量功能，無論在研發實驗室或生產測試環境中，皆能實現高產能檢測作業。
為精確測試光纖與光子元件而選擇合適的可調諧雷射器時，應著重於直接影響訊號品質、測量精度及光譜解析度的規格參數。最關鍵的評估指標包括：
- 波長精度：此參數指雷射實際輸出波長與指令波長之間的匹配程度。針對高精度應用場景，例如DWDM元件測試、ITU網格合規性驗證或濾波器特性分析，應選用波長精度達±10皮米或更優異的可調諧雷射器。高精度設計能確保測量結果符合嚴苛的波長容差要求，並在測試過程中將漂移相關誤差降至最低。
- 輸出功率：可調諧雷射器應提供足夠高且穩定的光學輸出功率，以確保被測裝置獲得強勁的訊號強度。典型值範圍為+6至+20 dBm。在調諧範圍內保持輸出功率的一致性，對於準確表徵插入損耗、靈敏度或光回波損耗至關重要，尤其在測試具有不同光譜衰減特性的元件時。
- 信號對源自發射比（信號對SSE比）：此規格描述主雷射信號與背景自發射的比率，是決定光譜純淨度的關鍵因素。高信號對SSE比（例如>80 dB/nm）可確保獲得潔淨、高對比的光學信號，降低敏感測量中的噪聲，並避免干擾緊密排列的波分復用（WDM）通道或高解析度濾波器。 在干涉測量、相干及調製信號測試中，低自發輻射尤為關鍵，因信號清晰度直接影響測試精確度。
透過選用具備嚴密波長精度、寬廣精準調諧範圍、強勁輸出功率及卓越信噪比的可調諧雷射器，您能在從研發到自動化生產環境的廣泛光學測試應用中，確保獲得潔淨、可重複且高解析度的測試結果。
在光通訊測試中，可調諧雷射器必須涵蓋波分復用系統與光收發器所使用的所有標準化光傳輸頻段。 是德科技的可調諧雷射器涵蓋1260 nm至1650 nm波段，完整囊括O波段（1260–1360 nm）、C波段（1530–1565 nm）及L波段（1565–1625 nm）。
此廣泛的頻譜覆蓋範圍使您能夠測試ITU-T網格通道、執行收發器合規驗證，並表徵應用於400G、800G及1.6T光網路中的被動與主動元件。無論您正在校準濾波器、驗證色散特性，或分析跨波長插入損耗，寬調諧範圍皆是基礎 全面且面向未來的光學基礎 。
窄線寬可調式雷射器可輸出高度相干、光譜純淨且相位雜訊極低的光學訊號。此特性在高精度光學測試中尤為關鍵，因訊號品質直接影響測量精確度。例如：
- 在密集波分復用（DWDM）濾波器測試中，窄線寬對於解析間距緊密且光譜重疊極小的通道至關重要。
- 在光子積體電路（PIC）特性分析中，窄線寬有助於維持一致的耦合效果，並能偵測細微的光譜特徵。
- 在干涉儀配置或相干系統測試中，高相干長度可確保可靠的條紋可見度與精確的相位測量。
採用頻寬達千赫茲範圍的可調諧雷射器，即使在最嚴苛的光學測試中，也能確保精準且可重複的結果，助您揭示裝置的細微行為，並確保系統全域的訊號完整性。