如何執行電磁干擾（EMI）測試

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使用時域掃描法執行即時 EMI 測試

測試電子裝置的電磁干擾（EMI）相符性時，您需量測待測設備（EUT）在正常運作下所產生的輻射雜訊（RE）和傳導放射（CE）。 工程師必須依照 EMI 測試標準的要求，在每個頻率上長時間停留並執行量測，以便偵測並分析間歇性干擾信號。 此外，他們還需使用時域掃描（TDS）和即時掃描（RTS），以及高達 350 MHz 的高度重疊快速傅立葉轉換（FFT）分析頻寬，準確地擷取並量測無間隙脈衝信號。

如欲偵測 EUT 上的 EMI 干擾信號，請使用具有寬頻數位 IF 硬體和寬頻時域掃描的 EMI 接收器，以便在單一區段中將資料擷取頻寬提高到 350 MHz。 藉由設定保留數量和最大值保留現有信號，您可連續掃描輸入信號，以顯示所有事件和所有偵測到的信號之詳細資訊。 使用 EMI 量測軟體查看峰值和瀑布軌跡。

EMI 先期認證和相符性測試解決方案

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執行 EMI 先期認證和相符性測試時，您需要量測、檢測和分析間歇性干擾信號。 是德科技 EMI 測試解決方案包括是德科技信號分析儀、EMI 接收器和 EMI 分析軟體，可協助您確認產品效能，以及它們是否符合 CISPR 16-1-1 和 MIL-STD-461 等法規機構制定的 EMC 標準。 是德科技 EMI 先期認證和相符性測試解決方案具有即時掃描（RTSC）和加速時域掃描（A-TDS）功能，讓工程師能快速進行除錯並找出可疑的干擾。
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