D9040PCIC PCI Express® 電子效能驗證與相符性測試應用軟體

自動化

• 整合自動控制功能，可用於指定的是德科技和 Bitifeye 高速切換系統
• 整合式待測元件控制功能，使用 81150A 或 81160A 脈衝函數任意波形雜訊產生器控制端點或根聯合體元件
• 實驗室相符性模式，自動執行 PCISIG CEM 相符性測試並可使用 Sigtest 軟體產生報告
• 測試設定精靈可引導您逐一完成測試選擇、配置、連接、執行等程序，並產生結果報告
• 顯示量測連接設定，並為每次測試自動配置示波器設定
• 測試結果報告記錄了測試配置、所進行的量測、合格/不合格狀態、邊限分析和波形。並提供切換解決方案，用於執行自動多通道測試

支援的標準

• PCI Express® BASE 和 CEM 4.0 發射器測試
• PCI Express® 1.1、2.0、3.0 和 4.0 參考時脈測試
• PCI Express® 1.0、1.1、2.0、3.0 CEM 和 BASE 規格測試
• PCI Express® SFF-8639 (U.2) 端點和根聯合體測試
• 使用 Sig Test 軟體進行 1.0a、1.1、2.0、 3.0 和 4.0 CEM（相符性）分析時，可獲得一致的分析結果
• 可利用選配的 InfiniiSim 波形轉換工具套件支援測試夾具與纜線的解嵌入

需求

• PCI-SIG® 相容性測試夾具
• 串列資料分析
• InfiniiSim 波形轉換工具套件（選配）
• PrecisionProbe 示波器纜線和探棒修正（選配）

可擴充性

• 使用使用者自訂應用軟體工具 (www.keysight.com/find/uda) 來：
• 建立完全整合的客製化測試、配置變數和連接指示
• 在執行序列中插入外部應用程式呼叫，例如 MATLAB script 或是元件控制器
• 配置用於您的測試套件的外部儀器

PCI Express 電氣效能驗證與相容性測試軟體，能讓您以簡單快速的方式，進行 PCI Express 設計的驗證與除錯。PCI Express 電氣測試軟體可對端點、根複合體和新型 ASIC（晶片級）自動執行 PCI Express 電氣測試，並以靈活的報表格式顯示結果。除了量測結果以外，這份報告還提供了邊限分析，以顯示您的裝置以多少差距來通過或未通過每項測試。

PCI Express 電氣測試軟體可測試並驗證您的發射器是否符合 16 GT/s 的 PCI Express 4.0 BASE 規格，另外還包括不相關抖動量測和其他測試，同時提供更新的 PCIe 4.0 參考時脈測試。

PCI Express 電氣測試軟體採用 Q 域方法（PCI Express 3.0 和 4.0 BASE 標準）來執行 8G 和 16G BASE 抖動量測，並使用雙狄拉克方法來執行 5G 抖動隔離（在 PCI Express 2.0 BASE 和板卡機電規格中詳細描述）。如此可確保您的 PCI Express TX 量測結果與使用 PCI-SIG 的獨立信號品質測試軟體的結果一致。

本軟體在 PCI Express 4.0 和 PCI Express 3.0 量測加入了新的演算法，來計算 16G 與 8G 特定的 BASE 規格參數，包括：

• TX 單位間隔
• 無 TxEQ 的全振幅 TX 電壓
• 在全振幅 EIEOS 中的最小振幅
• TX 不相關總抖動
• TX 不相關定量性抖動
• TX 不相關脈衝寬度抖動
• TX 定量性 DjDD 不相關脈衝寬度抖動
• TX 擬封包遺失
• TXEQ 預置解加強和預擊量測 (8G PCIe 3.0)
• TX 直流共模電壓
• TX 交流共模電壓
• TX 直流共模電壓的絕對差值

除了支援 PCIe 4.0 和 PCIe 3.0 量測外，PCI Express 電氣效能驗證及相容性軟體可執行最廣泛的傳統電氣測試，這些測試是按照 PCI Express 1.0a、1.1 和 2.0 電氣規格的的新矽晶、插卡 (add-in card)，和主機板系統（基本規格第四章和插卡電子機械規格第四節）來執行。除了全振幅 (800 mV) 測試之外，該軟體還可依照 PCI Express 規範測試低功率、半振幅元件 (400 mV)。

PCI Express 電氣效能驗證和相符性測試軟體需要高速串列資料分析軟體、一副用於 CEM 或 U.2 測試用的 PCI-SIG 核准相符性測試夾具（CBB3 或 CLB3 或適合的 U.2 測試夾具）、一台 Infiniium 高效能即時示波器以及至少兩條 SMA/SMP 纜線或 InfiniiMax 主動差動探棒。其中某些量測不能使用 PCI-SIG 相符性測試夾具，您可能需要自製或購買客製的測試夾具。當您測試新型晶片或客製 ASIC 時，通常需要使用客製的夾具。