現代的計頻器降低了進行精確量測的複雜度,但為避免量測頻率的許多陷阱,必須特別注意。下列是六項秘訣,可協助您使用計頻器,進行更理想的頻率量測。

秘訣 1:選擇最佳預觸模式

若您想進行快速量測,可使用計頻器的自動預觸模式,作為進行設定的一項簡易方式。不過,在四個典型預觸模式中 (自動、外部、時序和位數),自動模式最不精確。您可以增加外部、時序或位數預觸模式的時閘,改善 RMS 解析度和系統不確定性 (這兩項都是量測錯誤的元素,如下列公式所示)。

量測錯誤 = 系統不確定性 ± sigma * RMS 解析度
sigma = 信心係數 (2-sigma、3-sigma 等)

秘訣 2:若要達成更高的精確度,隨時更新您計頻器的時基

大部分精密的計頻器仰賴溫度補償的頻率振盪器 (TCXO),或是恆溫控制的頻率振盪器 (OCXO)。讓頻率振盪器的電源持續開啟,將可避免耦合時序錯誤;輸出頻率中的馳返和偏移。切斷振盪器的電源 (即便是短時間),表示在以穩定的頻率停止前,時基振盪器必須透過電源的週期波動 (回掃)。是德的 53100 系列計頻器,除非將插頭拔掉,否則不會真的關閉;此系列計頻器會保持於「待機」模式,以避免每次重新啟動儀器電源時產生的振盪。為確保最穩定的晶體運作,將您的計頻器置放於無須拔起插頭的位置,讓儀器能夠在啟動與待機模式間切換。當您校驗時基時,請將校驗設備帶到計頻器所在處,而非將計頻器搬到校驗設備所在處,如此您就無需將計頻器的插頭拔起。每當切斷計頻器的電源時,老化率必須自每日老化率重新開始。

   
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圖 A、B 和 C 顯示三個類似的晶體,擁有非常不同的啟動特性。圖 A 和 D 顯示相同的晶體如何擁有不同的啟動 (回掃) 特性。最後,圖 E 和 F 顯示 OCXO 提升的啟動穩定性。  

Keysight 選項 012 超高穩定度恆溫在前 90 天的老化率為:

1E-10 *30 天 + 3E-9 * 2 月 = 9E-9

第一年的老化率為:

1E-10 *30 天 + 3E-9 * 11 月 = 3.6E-8

第二年 (未調整) 的老化率為:

1E-10 *30 天 + 3E-9 * 11 月 + 2E-8*1 年 = 5.6E-8

若您在第一年結束時,在不切斷時基本電源的情況下進行調整,則第一個每天和每月規格將不適用。在前 90 天,時基的老化率為 2E-8*.25 年 = 5E-9。第一年的老化率將為 2E-8*1 年 = 2E-8。讓時基持續通電,可讓 1 年的規格大幅地改善。

 
 
初次啟動後,不要調整  維持原狀 1 年後重新調整。重新調整後的老化率  
+ 90 天 9E-9 5E-9 (1.8 倍改善) 
+ 1 年 3.6E-8 2E-8 (18倍改善) 
+ 2 年 5.6E-8 4E-8 (14倍改善) 

表 1. 在經過 1 年的連續運作後,時基變得非常穩定。在不切斷電源下重新調整計頻器,可讓您善用更高的穩定性。

在是德計頻器中,選配的時基擁有較標準時基更高的效能,部分是因為選配的時基擁有內部恆溫。讓您的計頻器維持原狀,不受溫度變動影響,將可提升其穩定度。

秘訣 3:若要達成最高精密度,請使用可用的最佳時基,並經常加以校驗

時基的品質與校驗時基的頻率,將會影響您的量測準確度。對於大部分應用,您可以在準確度、時基品質和校驗期之間作出取捨。若您購買高品質時基,您可以延長校驗間隔。若您更經常地校驗,也許能夠使用成本較低的時基,達成精確度的要求。在上列範例中,90 天的校驗間隔,將可確保老化係數永遠不會超過 5E-9 (第一年後)。

時基不需要位於計頻器內。您可使用精密信號源或計數器外部的標準儲存位置,提升量測精確度。

秘訣 4:對於充滿雜訊的信號,注意觸發錯誤

進行約略精確的計算時,工程師經常忽略觸發錯誤的影響。觸發錯誤是儀器輸入放大器的 RMS 雜訊,以及儀器涵蓋儀器頻寬之輸入訊號的 RMS 雜訊。例如,225 MHz 計數器可能會提供 100 kHz 低通濾波器。量測限制頻寬的低頻信號時,將會消除高頻雜訊。充滿雜訊的信號會增強觸發錯誤的效果,而變得顯著。

您要如何判定分佈於計頻器頻寬的信號源產生雜訊?一個可能的方法是使用頻譜分析儀,量測感興趣的信號加上所有雜訊。頻譜分析儀擁有比計頻器小上許多的 IF 頻寬。頻譜分析儀所量測的雜訊必須經過縮放,以配合計數器的頻寬。

例如,使用具 225 MHz 頻寬的計數器量測 10 MHz 信號。假設您在具備 10 kHz IF 頻寬的頻譜分析儀上,檢視您的 10 MHz 信號,分析儀顯示來自 10 MHz 信號源的雜訊為平坦,且低於基本值 60 dB (-70 dBm)。-70 dBm 至 50Ω 約為 70 µVrms。您很明顯地會認為雜訊不是問題。您將 10 MHz 信號源接上計頻器,計頻器顯示雜訊讀值。這是為什麼呢?由於計頻器為時域量測儀器,而頻譜分析儀為頻域量測,計數器輸入會顯示其頻寬所有頻譜元件整體情況。

10 log(225 MHz / 12 kHz) = 42.73 dB

因此,225 MHz 中的雜訊為 -67.5 + 42.73 = -24.8 dBm,等於 12.9 mVrms。這造成高位準的觸發錯誤,也是隨機讀值的導因。對於高靈敏度的計頻器,這種程度的雜訊會造成錯誤計頻。

秘訣 5:注意觸發位準時序錯誤

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當您進行時序量測時 (時序間隔、脈衝寬度、上升時間、下降時間、相位與信號週期),需考量到觸發位準時序錯誤的影響。影響因素有好幾項,主要是觸發位準電路的解析度和精確度、輸入放大器的傳真度、觸發點輸入信號的轉換率,以及輸入磁滯帶的寬度。

若要消除這些影響,請觸發正弦波或方波信號的偏移值。如此將會提供最高的轉換率,也會將磁滯帶的錯誤減到最小。若您進行偏移到偏移值量測 (例如完成其、兩個信號間的 0 度相位),實際上可能會抵銷掉磁滯窗的效果。

大部分的計數器都針對 0 V 觸發位準設定進行了最佳化。對於 Keysight 53131A 和 Keysight 53132A,若觸發位準設定為 0 V,而開始和停止觸發點具有相同的轉換率,則觸發位準時序錯誤會簡化為 30 mV/轉換率。

圖 2. 顯示對特定振幅而言,正弦波的轉換率會隨頻率增加。或者,對特定頻率而言,轉換率會隨振幅增加。

秘訣 6:在可能之時,將所有時基鎖定至單一時脈

兩個獨立時基間發生的歪斜和/或抖動,將會助長錯誤。使用獨立的時基,就像觀賞電影時,畫面和聲音分別位於不同的系統上。電影開始時,視訊和音訊可能同步,但隨著時間過去,兩者間的細微差異會變得越來越明顯。在許多使用現代測試與量測設備的應用中,此種歪斜情況極為不明顯。