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Device Modeling WaferPro 的主要特性
Device Modeling WaferPro 是新的量測軟體平台，可提供統一、開放和自動化的晶圓上量測環境。WaferPro Express 是能夠真正滿足客戶特性分析需求的解決方案。它支援（內建和使用者定義的）高效量測程式庫，如自我調整量測演算法等，可以顯著減少總體量測時間。
關於 WaferPro 的更多資訊，請下載 WaferPro 手冊。
WaferPro 的主要特性
加快開始首次量測：
- 適用於 CMOS、BJT 和其他主要技術的完整 DC、CV 和 RF 測試演算法
- 50 多個完整的儀器驅動程式，適用於大多數常見儀器、介面和作業系統
- 晶圓級量測解決方案的系統設置和驗證程式簡單易用
簡化設置自動化測試的日常任務：
- 現代化的直觀操作介面，方便定義晶圓圖和測試計畫
- 獨家整合到 Cascade Microtech 探棒控制軟體中
提高工作效率：
- 先進的資料顯示和晶圓資料映射檢視器
- 用於處理大量資料的 SQL 資料庫
讓使用者能夠解決複雜或常見的問題：
- 用於資料監測和後期處理以及儀器驅動程式實現的 Python/PEL 程式設計
- 可配置的切換矩陣驅動程式，支援各種探棒卡和連接
晶圓級量測解決方案
WaferPro 是是德科技與 Cascade Microtech 合作開發的晶圓級量測解決方案（WMS）的關鍵組成部分。
所有 WMS 均由是德科技和 Cascade Microtech 進行驗證，以便讓使用者儘快開始首次量測，並為使用者提供精確、可重複的元件和元件特性分析。
所有 WMS 均提供有保證的系統配置、安裝和支援。
關於 WMS 的更多資訊，請參閱晶圓級量測解決方案。
圖 1：典型的 WMS 直流和射頻元件建模解決方案，提供有保證的配置、安裝和支援。測試工程師可獲得快速、準確、經過驗證的晶圓級半導體量測解決方案，確保量測效能以及多個位置量測結果之間的相關性，並大幅加快開始首次量測。
在元件建模流程中，WaferPro 適合部署在哪裡並與其他產品結合使用？
圖 2：元件建模流程中的 WaferPro。
IC-CAP WaferPro 和 WaferPro 有什麼區別？
- IC-CAP WaferPro 適用於使用單一平台進行量測和建模或需要存取新量測管理系統（MMS）的使用者，而新 MMS 為 IC-CAP WaferPro 所獨有。IC-CAP WaferPro 提供極大的靈活性，可驅動是德科技參數測試儀，並包含可與建模共用使用的 IC-CAP 環境
- WaferPro 適用於需要簡單易用、經濟高效的自動化晶圓上量測解決方案的使用者
深入了解下列議題：
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