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將設計與實體測試相結合,在硬體尚未問世之前,即評估其是否符合跌落、衝擊、震動及振動的相關規範。
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Learning Resources
N4391B 光調變分析儀
N4391B 是基於 UXR 示波器系列的下一代光調變分析儀,提供兩種頻寬選項,一種範圍從 40 GHz 到 70 GHz,另一種範圍從 80 GHz 到 110 GHz。
相干光通訊測試挑戰
本應用說明著重於新一代光纖通訊系統的測試和疑難排解,這些系統必須支援 100 Gb/s、400 Gb/s 或更高資料速率。
電氣與光學時脈資料回復解決方案
Keysight N1076A 和 N1077A 時脈回復解決方案,是許多發射器和接收器測試設定的理想選擇,適用於電腦、資料通訊和通訊標準,如本資料表中所示。
高速同調光傳輸系統特性分析
本應用簡報說明如何將 Keysight M8195A 中最新的 AWG 技術,做為同調傳輸系統所用之電氣和電光元件的數位調變源。
N1090A、N1092A/B/C/D/E 和 N1094A/B DCA-M 光學與電氣取樣示波器
Keysight N1090A、N1092A/B/D 和 N1094A/B/D 光學取樣示波器,如本技術概述所述,為光學波形分析提供高精度、低成本的解決方案。
N4373E 43.5/50/67 GHz 單模光波元件分析儀,適用於 40/100G 電光測試
N4373E 光波元件分析儀 (LCA) 基於新型 N52xxB PNA 微波網路分析儀系列,提供 43.5/50/67 GHz 的調變頻寬,使其成為開發和特性化電光元件的理想選擇,適用於 40G/1 OOGbE 以及即將推出的 400G 和 1 Tbit/s 傳輸系統。
您不可不知的同調光學調變技術
同調光學調變技術基本原理簡介。
L4445A ????/??????
這份 Keysight L4445A 微波開關衰減器驅動器的 10 頁產品概覽包含產品規格以及詳細訂購資訊。
RF與微波測試配件 — 型錄
Keysight 射頻與微波測試配件簡介。從 200 多種支援高達 67 GHz 的配件中進行選擇,範圍涵蓋小型轉接器到大型系統放大器。
同調光學元件測試讓 1.2 Terabit 應用成真
NeoPhotonics 使用是德科技最新的測試設備,成功驗證了全新 400ZR COSA 等 64 GBaud 元件的效能,無須等到一年後收發器 DSP 矽元件問世後才進行測試。 如果沒有是德科技設備,NeoPhotonics 就無法測試並評估他們的元件效能。
Hi-Z+ 被動式探量系統
PP00xxA 系列探棒和配件產品型錄。
資料中心從 100GE 加速到 400GE:先進調變和編碼挑戰
資料中心從 100GE 轉向 400GE 是一場革命,而非演進。光收發器將需要使用先進的信號調變和編碼技術才能達到 400GE 速度。這些技術為收發器製造商帶來了新的測試挑戰。
航太與衛星開發及方法
瞭解衛星開發的關鍵新領域:光學衛星間交叉鏈路、軟體定義衛星以及相控陣天線。
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Keysight 數 位通訊 分析儀(DCA)解決方案
Keysight 設計的數 位通訊分析儀(DCA)解決方案,有效地提升了測試的效率和準確度。同時,我們自豪地打造出各種領先業界的取樣示波器、模組、配件和 軟體,能幫助您測試序列 I/O 半導體,以及現代資料中心光收發器的通訊基礎設施。
實現高效率光子設計:大幅降低工時投入
RSoft MOST 透過靈活的指標和平行計算實現多參數最佳化自動化,從而簡化光子元件設計。它與 FDTD、RCWA 和 BPM 等工具集成,可加速工作流程並提升 AR/VR 光柵和抗反射結構等應用中的光學性能。
8157xA 光學衰減器
Keysight 8157xA 可變光衰減器是可衰減並控制單模光纖中光功率位準的儀器。它們可插入 8163B/8164B/8166B 主機框。
N7752C 與 N776-C 系列可變光衰減器
Keysight N7752C 和 N776-C 系列可變光衰減器可實現高效的光收發器和網路整合測試。新一代衰減器配備內建圖形使用者介面,無需安裝軟體即可輕鬆控制,並可透過 GbE LAN 和 USB 2.0 連線存取。
N77 系列衰減器
Keysight N775xA 和 N776xA 系列單模與多模光學衰減器,可提供快速穩定的功率設定,並內建功率監測功能,適用於光收發器和網路整合測試。
光子與光學測試型錄
探索 Keysight 光子和光學測試解決方案,這些方案專為光學裝置特性分析、波長量測、同調調變分析和高速光通訊測試而設計。本目錄重點介紹了適用於研究、製造、校準和同調系統驗證的桌上型和模組化光學測試儀器,涵蓋多種能力等級。
N4917BSCB 光學接收器壓力測試解決方案
針對 400GbE 光學收發器的完整光學接收器壓力測試解決方案,具備自動化壓力眼圖校正與效能合規性測試。
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