什麼是雜散光?

雜散光的定義

雜散光是指任何不必要的電磁輻射,它會干擾光學系統預期功能的性能。不必要的雜散光可能發生在成像或投影系統中,儘管通常對前者進行控制更為關鍵。雜散光可能源於光學系統正在捕捉的物體、來自意外的外部發射器,或者,對於紅外敏感系統而言,它可能源於系統本身因自身熱量而發光的元件。

雜散光的例子包括:

  • 光學系統內部機械安裝表面反射的光線
  • 光線從系統外殼的縫隙中洩漏
  • 光線在系統光學表面上的灰塵和其他缺陷處散射
  • 天空輝光,由城市燈光在大氣層中的反射引起,並影響地面天文學
  • 太陽、地球和月亮,它們會影響軌道望遠鏡

兩種雜散光類型

雜散光可分為兩種截然不同的類型:鬼影 (ghosts) 和眩光 (flare) 或薄霧眩光 (veiling glare)。

鬼影發生在成像系統中,當來自影像場中光源的光線經過兩次或更多次不必要的反射,然後落在成像設備上,產生不必要的鬼影影像。對於數位相機而言,最常見的鬼影影像來源之一是光線從成像設備反射回光學系統,然後再從鏡頭表面反射回來形成二次影像。

眩光或薄霧眩光通常發生在光線在光學系統內部散射時,可能是由於光學表面上的缺陷,或是系統中的機械元件。薄霧眩光也可能由大氣對光的反射引起,例如霧霾或天空輝光。

鬼影:
  • 源於成像表面之間意外的反射
  • 源於光柵產生的高階或未阻擋的繞射級次
  • 透過明亮散射表面的二次成像形成

眩光或薄霧眩光:

  • 從光學系統視野外部的光源進入影像
  • 源於視野內的明亮光源或溫暖表面的熱輻射
  • 當光線在光學系統內散射時發生
使用手機相機拍攝的照片,顯示了三個清晰聚焦的燭火鬼影和一個延伸的鬼影。

圖 1. 鬼影範例:使用手機相機拍攝的照片,清楚顯示三個清晰聚焦的燭火鬼影。另有一個第四個延伸鬼影,其中心位於中間的清晰鬼影上。

為何在設計中找出雜散光如此重要?

雜散光會透過向影像添加不必要的光線來降低影像對比度。例如,雜散光可能:

  • 降低偵測系統的靈敏度。
  • 在商用成像系統中產生不美觀的影像。
  • 在光投射系統的光束圖案中產生不必要的亮點。

軟體如何協助找出雜散光?

雜散光會透過向影像添加不必要的光線來降低影像對比度。例如,雜散光可能:

  • 降低偵測系統的靈敏度。
  • 在商用成像系統中產生不美觀的影像。
  • 在光投射系統的光束圖案中產生不必要的亮點。
單一鬼影路徑的循序光線追蹤。

圖 2. 鬼影範例:單一鬼影路徑的循序光線追蹤。視場中物體的光線穿過透鏡,並在右側的偵測器上形成影像。部分光線隨後被偵測器反射回透鏡。其中一個透鏡表面隨後將光線反射回偵測器上的不同位置。此鬼影之所以重要,是因為鬼影光線幾乎聚焦在偵測器上,這將導致比光線分散到更大區域時更亮的鬼影。

眩光可以透過許多且通常是意想不到的光學路徑進入光學系統。您可以使用蒙地卡羅軟體來調查其影響。蠻力法將隨機產生許多光線,並分析能量如何在模型中分佈。變異數縮減法可以有效率地找出包含低機率事件(例如高角度散射)的路徑所產生的影響。

意外光線範例:來自物體的光線從鏡頭座散射,然後反射到偵測器。

圖 3. 意外光線範例:視場中物體的光線從鏡頭座散射,然後被透鏡表面反射到偵測器。

模擬雜散光的計算方法

雜散光(由鬼影和眩光組成)的分析和控制是成像系統設計中一項重要但複雜的任務。鬼影源於主光學路徑中表面的多次反射。在焦點處或附近撞擊影像平面的鬼影尤其令人關注 ⁠— 眩光可能源於光線從鏡頭座、透鏡的非光學表面(例如平面和邊緣)以及偵測器本身反射,然後重新成像到偵測器上。偵測器微結構的繞射也會使模擬從偵測器反射的光線的過程複雜化。

雜散光工作流程

以下是使用 Keysight 軟體分析相機系統中雜散光的典型流程:

使用 Keysight 軟體分析相機系統中雜散光的典型流程。

使用 Keysight 建立雜散光模型並進行分析

我們的光學設計工程產品組合提供多種軟體選項,用於建立雜散光模型和分析。選擇正確的軟體取決於您的應用,我們的產品支援協同模擬。

臉部特寫,螢幕反射在曲面玻璃上

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