- 概述
- 所有型號
- 支援
用於光學測試工作流程中精確波長掃描的雷射
Keysight XP4 級可調諧雷射光源提供高解析度、窄線寬的光學訊號，能夠精確地特性化光子元件和系統中與波長相關的性能。我們的可調諧雷射專為掃頻或步進波長測試而設計，具有卓越的穩定性、低雜訊和精細調諧控制功能，使其成為測試濾波器、調變器和光子積體電路的理想選擇。憑藉寬廣的調諧範圍和可程式掃描功能，您可以輕鬆將其整合到自動化光學測試系統中。請根據您所需的絕對波長精度和可調諧性，選擇適合您的可調諧雷射光源。選擇我們熱門的配置之一，或根據您的應用配置專屬方案。
窄線寬穩定度
提供具有低相位雜訊和高同調性的超潔淨光學輸出，可實現窄頻光學元件的精確測試。
寬廣的調諧範圍
涵蓋 1260–1650 nm 範圍內的 200 nm，非常適合測試常見電信頻段內外。
快速、線性掃描
可編程、高速波長掃描可縮短測試時間，並改善波長相關損耗和反射量測。
系統整合
專為系統級應用設計，支援 SCPI 指令並具備模組化相容性，以簡化自動化光學測試。
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Absolute wavelength accuracy
±1.5 pm 至 ±10 pm
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Tunability
Continuous sweep, Stepped
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信號 SSE 比
80 dB/nm, 75 dB/nm
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最大功率
13 dBm 至 19.4 dBm
最熱門配置
XP4 級可調諧雷射，高功率和低 SSE
XP4 級可調諧雷射，高功率和低 SSE
XP4 級可調諧雷射，高功率和最低 SSE
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
可調諧雷射是一種精密光學源，其輸出波長可在定義的光譜範圍內連續或分步調整。這種掃描波長的能力使可調諧雷射成為光學元件測試、光纖通訊系統和先進光子學研究不可或缺的工具。在測試環境中，可調諧雷射用於探測光學濾波器、多工器/解多工器 (MUX/DEMUX)、波導、調變器和光子積體電路 (PIC) 等裝置的光譜響應。
透過在廣泛範圍內調諧雷射（通常涵蓋 C 波段、L 波段和 O 波段），工程師可以高精確度地識別光學裝置的插入損耗、中心波長、通道對準和頻譜平坦度。現代可調諧雷射還支援自動波長掃描、精細解析度步進和觸發量測，從而實現研發實驗室和生產測試環境中的高吞吐量測試。
為了選擇適合用於精確光纖和光子元件測試的可調式雷射，請著重於直接影響訊號品質、量測準確度和頻譜解析度的規格。最重要的評估參數包括：
- 波長準確度：這指的是雷射的實際輸出與指令波長之間的匹配程度。對於高精度應用，例如 DWDM 元件測試、ITU-grid 合規性或濾波器特性分析，請尋找波長準確度為 ±10 pm 或更佳的可調諧雷射。高準確度可確保您的量測符合嚴格的波長容差，並最大程度地減少測試運行中的漂移相關誤差。
- 輸出功率: 可調諧雷射應提供足夠高且穩定的光學輸出功率，以確保待測裝置處的訊號強度。典型值範圍為 +6 至 +20 dBm。在整個調諧範圍內保持一致的輸出對於準確表徵插入損耗、響應度或光學回損至關重要，尤其是在測試具有不同頻譜衰減的元件時。
- 訊號源自發輻射比 (signal-to-SSE)：此規格描述主雷射訊號與背景自發輻射的比率，這是決定光譜純度的關鍵因素。高訊號源自發輻射比 (例如，>80 dB/nm) 可確保光訊號清晰、對比度高，從而降低敏感量測中的雜訊，並避免與緊密間隔的 WDM 通道或高解析度濾波器產生干擾。低自發輻射在干涉、同調和調變訊號測試中尤為重要，因為訊號清晰度直接影響測試的準確性。
選擇具有嚴密波長準確度、寬廣且精確的可調諧性、強大輸出功率和優異信號雜訊比（信號與 SSE 比）的可調諧雷射，您便能確保在從研發到自動化生產環境等廣泛光學測試應用中，獲得清晰、可重複且高解析度的結果。
在光通訊測試中，可調雷射必須涵蓋 WDM 系統和光收發器中使用的標準化光傳輸頻段的整個範圍。Keysight 可調雷射的波長範圍為 1260 nm 至 1650 nm，涵蓋完整的 O 頻段 (1260–1360 nm)、C 頻段 (1530–1565 nm) 和 L 頻段 (1565–1625 nm)。
這種廣泛的頻譜覆蓋範圍，讓您能夠測試 ITU-T 網格通道、執行收發器相符性驗證，並特性分析用於 400G、800G 和 1.6T 光學網路的被動和主動元件。無論您是校準濾波器、驗證色散，還是分析跨波長的插入損耗，寬廣的調諧範圍對於全面且符合未來需求的光學測試都至關重要。
窄線寬可調諧雷射提供高度相干、頻譜純淨且相位雜訊極小的光學訊號。這在高精度光學測試中尤為重要，因為訊號品質直接影響測量準確性。例如：
- 在 DWDM 濾波器測試中，窄線寬對於解析緊密間隔的通道且頻譜重疊最小至關重要。
- 在光子積體電路 (PIC) 特性分析中，窄線寬有助於維持一致的耦合，並偵測精細的頻譜特徵。
- 在干涉儀設置或同調系統測試中，高同調長度可確保可靠的條紋可見度，以及精確的相位量測。
使用線寬在 kHz 範圍內的可調式雷射，即使在最嚴苛的光學測試中，也能確保準確且可重複的結果，讓您能夠揭示細微的裝置行為，並確保整個系統的訊號完整性。