ライン途中検査を用いたタクトタイムの最適化方法

A90 MOLテスター
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自動車用プリント基板の組立・製造・検査工程におけるタクトタイムの最適化

現代の自動車用電子機器では、ますます複雑化するプリント基板アセンブリ(PCBA)上に、より多くのプロセッサ、メモリ、接続機能、およびソフトウェアが統合されています。 生産工程において、ファームウェアやオペレーティングシステムのデータ量が増加すると、従来のインサーキット試験や機能試験ステーション内で処理を行う際に、プログラミング時間が長引いたり、ボトルネックが発生したりする可能性があります。タクトタイムとは、所定の生産量を達成するために必要な生産ペースを指します。試験やプログラミング作業に時間がかかると、ライン全体のスループットが制約を受けることになります。自動車製品がますますソフトウェア主導型になり、ファームウェアのデータ量が増加するにつれて、この課題はさらに顕著になっています。

ミドル・オブ・ライン(MOL)テストは、時間のかかるアプリケーションプログラミングを専用のインラインプロセスに移行させることで、タクトタイムのバランスを最適化する機会を提供します。ICTから中規模から大規模のペイロードのフラッシュ書き込みをオフロードすることで、各テストステージは、それぞれが最も効率的に実行できる作業に集中できるようになります。 スケーラブルなMOLプラットフォームは、スループット要件の増加に応じて並列プログラミング能力を拡張できるほか、効率的な基板ハンドリングと柔軟なライン統合により、生産フローの維持を支援します。このアプローチにより、自動車用電子機器やソフトウェアの複雑化が進む中でも、メーカーはプログラミングのボトルネックを軽減し、各テスト段階間のタクトタイムのバランスを調整し、スループットを維持することが可能になります。

A90 インライン塗布試験ソリューション

タクトタイムを満たすには、1つのテストステップを高速化するだけでは不十分であり、MOLテストフロー全体を、最も処理速度の遅い操作に合わせてバランスを取る必要があります。 キーサイト社のA90インライン・アプリケーション・テスト・スイートは、大容量フラッシュ、バウンダリスキャン、基板機能テスト、およびほとんどのエンド・オブ・ライン機能を単一の自動化されたインライン・システムに統合するための、構成可能なプラットフォームを提供します。並列プログラミングは最大112チャネルまで拡張可能であり、同じ高さのバイパス機能により、プロセスが不要な場合でも基板の搬送を継続できます。 並列設置により、生産ラインの大幅な再設計を必要とせずに容量を拡張できます。アクセスしやすい計測器ベイは、PXI計測器や、アプリケーション固有の機能テスト用のカスタムフィクスチャに対応しています。その結果、再利用および再配置が可能なプラットフォームが実現され、エンジニアはワークロードのバランス調整、ステーションの重複やハンドリングの削減、床面積の効率的な活用、さらには自動車プログラムやソフトウェアペイロードの変化に応じたテスト容量の適応が可能になります。

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