Como otimizar o tempo de takt com o teste no meio da linha

+ Testador A90 MOL

Otimização do tempo de takt na montagem e no teste de placas de circuito impresso para o setor automotivo

A eletrônica automotiva moderna combina mais processadores, memória, conectividade e software em conjuntos de placas de circuito impresso (PCBAs) cada vez mais complexos. Durante a produção, o aumento do volume de firmware e de sistemas operacionais pode prolongar o tempo de programação e criar gargalos quando processados em estações tradicionais de teste em circuito ou funcional. O tempo de takt define o ritmo de produção necessário para atingir a produção exigida; quando uma operação de teste ou programação leva mais tempo, isso pode limitar a produtividade de toda a linha. Esse desafio se torna mais acentuado à medida que os produtos automotivos se tornam cada vez mais definidos por software e o volume de firmware cresce.

O teste no meio da linha (MOL) oferece uma oportunidade de otimizar o equilíbrio do tempo de takt, transferindo a programação de aplicativos — que consome muito tempo — para um processo dedicado em linha. Transferir a gravação de cargas médias a grandes do ICT permite que cada etapa de teste se concentre nas operações que realiza com maior eficiência. Uma plataforma MOL escalável pode adicionar capacidade de programação paralela à medida que os requisitos de rendimento aumentam, enquanto o manuseio eficiente das placas e a integração flexível à linha ajudam a manter o fluxo de produção. Essa abordagem ajuda os fabricantes a reduzir gargalos de programação, equilibrar o tempo de takt entre as etapas de teste e manter o rendimento à medida que a complexidade da eletrônica automotiva e do software aumenta.

Solução de teste de aplicação em linha A90

Cumprir o tempo de takt exige mais do que apenas acelerar uma etapa do teste; todo o fluxo de testes MOL deve ser equilibrado em função da operação mais lenta. O conjunto de testes de aplicação em linha Keysight A90 oferece uma plataforma configurável para consolidar o flashing de alta carga útil, o boundary scan, o teste funcional da placa e a maioria das funções de fim de linha em um único sistema automatizado em linha. A programação paralela pode ser escalonada para até 112 canais, enquanto o bypass na mesma altura mantém as placas em movimento quando um processo não é necessário. A instalação lado a lado aumenta a capacidade sem exigir um grande reprojeto da linha. Um compartimento de instrumentos acessível suporta instrumentação PXI e dispositivos de fixação personalizados para testes funcionais específicos da aplicação. O resultado é uma plataforma reutilizável e reimplantável que ajuda os engenheiros a equilibrar cargas de trabalho, reduzir estações e manuseio duplicados, usar o espaço físico de forma eficiente e adaptar a capacidade de teste à medida que os programas automotivos e as cargas úteis de software mudam.

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