Wie man die Taktzeit mit Tests in der Mitte der Produktionslinie optimiert

+ A90 MOL Tester

Optimierung der Taktzeit im Test der Leiterplattenfertigung für die Automobilindustrie

Moderne Automobilelektronik vereint immer mehr Prozessoren, Speicher, Konnektivität und Software auf zunehmend komplexen Leiterplatten (PCBAs). Während der Produktion können wachsende Firmware- und Betriebssystem-Datenmengen die Programmierzeit verlängern und Engpässe verursachen, wenn die Tests in herkömmlichen In-Circuit- oder Funktionsteststationen durchgeführt werden. Die Taktzeit definiert das Produktionstempo, das erforderlich ist, um die geforderte Ausbringungsmenge zu erreichen. Dauert ein Test- oder Programmiervorgang länger, kann dies den Durchsatz der gesamten Linie einschränken. Diese Herausforderung verstärkt sich mit zunehmender Software-Definition von Automobilprodukten und dem Wachstum der Firmware-Datenmengen.

Der Middle-of-Line-Test (MOL) ermöglicht die Optimierung der Taktzeitverteilung, indem zeitintensive Anwendungsprogrammierung in einen dedizierten Inline-Prozess ausgelagert wird. Durch die Auslagerung des Flashens mittlerer bis großer Nutzdaten vom ICT kann sich jede Teststufe auf ihre effizientesten Aufgaben konzentrieren. Eine skalierbare MOL-Plattform kann bei steigenden Durchsatzanforderungen die parallele Programmierkapazität erweitern, während effizientes Board-Handling und flexible Linienintegration den Produktionsfluss aufrechterhalten. Dieser Ansatz hilft Herstellern, Programmierengpässe zu reduzieren, die Taktzeit über die Teststufen hinweg auszugleichen und den Durchsatz auch bei zunehmender Komplexität von Automobilelektronik und -software aufrechtzuerhalten.

A90 In-Line-Anwendungstestlösung

Um die Taktzeit einzuhalten, reicht es nicht aus, nur einen Testschritt zu beschleunigen. Der gesamte MOL-Testablauf muss auf den langsamsten Vorgang abgestimmt sein. Die Keysight A90 In-Line Application Test Suite bietet eine konfigurierbare Plattform zur Konsolidierung von Flashing mit hoher Nutzlast, Boundary Scan, Funktionstests von Leiterplatten und den meisten End-of-Line-Funktionen in einem einzigen automatisierten In-Line-System. Die Parallelprogrammierung ist auf bis zu 112 Kanäle skalierbar, während der Bypass für Leiterplatten gleicher Höhe einen reibungslosen Ablauf gewährleistet, wenn kein Prozess benötigt wird. Die Installation nebeneinander erhöht die Kapazität, ohne dass eine grundlegende Umgestaltung der Produktionslinie erforderlich ist. Ein leicht zugänglicher Instrumentenschacht unterstützt PXI-Instrumentierung und kundenspezifische Vorrichtungen für anwendungsspezifische Funktionstests. Das Ergebnis ist eine wiederverwendbare und flexibel einsetzbare Plattform, die Ingenieuren hilft, Arbeitslasten auszugleichen, redundante Stationen und Handhabung zu reduzieren, die Produktionsfläche effizient zu nutzen und die Testkapazität an sich ändernde Automobilprogramme und Software-Nutzlasten anzupassen.

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