라인 중간 검사(MOT)를 통해 택트 타임을 최적화하는 방법

+ A90 MOL 테스터

자동차용 인쇄회로기판 조립 제조 공정에서 택트 타임 최적화

현대 자동차 전자 장치는 점점 더 복잡해지는 인쇄회로기판 조립체(PCBA)에 더 많은 프로세서, 메모리, 연결 기능 및 소프트웨어를 통합하고 있습니다. 생산 과정에서 펌웨어 및 운영 체제의 데이터 양이 증가함에 따라, 기존의 회로 내 테스트(in-circuit) 또는 기능 테스트 스테이션에서 이를 처리할 경우 프로그래밍 시간이 길어지고 병목 현상이 발생할 수 있습니다. 택트 타임(Takt time)은 요구되는 생산량을 충족하기 위해 필요한 생산 속도를 의미합니다. 테스트나 프로그래밍 작업에 더 많은 시간이 소요되면 전체 생산 라인의 처리량이 제한될 수 있습니다. 자동차 제품이 점점 더 소프트웨어 중심이 되고 펌웨어 데이터 양이 증가함에 따라 이러한 과제는 더욱 두드러지게 나타납니다.

MOL(Middle-of-line) 테스트는 시간이 많이 소요되는 애플리케이션 프로그래밍을 전용 인라인 공정으로 이전함으로써 택트 타임 균형을 최적화할 수 있는 기회를 제공합니다. ICT에서 중대형 페이로드 플래싱 작업을 분리함으로써 각 테스트 단계는 자신이 가장 효율적으로 수행하는 작업에 집중할 수 있습니다. 확장 가능한 MOL 플랫폼은 처리량 요구 사항이 증가함에 따라 병렬 프로그래밍 용량을 추가할 수 있으며, 효율적인 기판 취급과 유연한 라인 통합을 통해 생산 흐름을 유지하는 데 도움이 됩니다. 이러한 접근 방식은 자동차 전자 장치 및 소프트웨어의 복잡성이 증가함에 따라 제조업체가 프로그래밍 병목 현상을 줄이고, 테스트 단계 전반에 걸쳐 택트 타임의 균형을 맞추며, 처리량을 유지하는 데 기여합니다.

A90 인라인 적용 테스트 솔루션

탁트 타임을 충족하려면 단순히 하나의 테스트 단계를 더 빠르게 만드는 것만으로는 부족하며, 전체 MOL 테스트 흐름을 가장 느린 작업에 맞춰 균형을 맞춰야 합니다. 키사이트(Keysight) A90 인라인 애플리케이션 테스트 스위트는 대용량 플래싱, 바운더리 스캔, 보드 기능 테스트 및 대부분의 최종 라인(end-of-line) 기능을 단일 자동화된 인라인 시스템에 통합할 수 있는 구성 가능한 플랫폼을 제공합니다. 병렬 프로그래밍은 최대 112개 채널까지 확장 가능하며, 동일한 높이의 바이패스 기능을 통해 공정이 필요하지 않을 때도 보드가 계속 이동할 수 있습니다. 나란히 설치함으로써 대규모 라인 재설계를 강요하지 않고도 용량을 추가할 수 있습니다. 접근성이 뛰어난 계측기 베이(instrument bay)는 PXI 계측기 및 애플리케이션별 기능 테스트를 위한 맞춤형 고정 장치를 지원합니다. 그 결과, 엔지니어들이 워크로드를 균형 있게 분배하고, 중복된 스테이션과 취급 작업을 줄이며, 바닥 공간을 효율적으로 활용하고, 자동차 프로그램 및 소프트웨어 페이로드의 변화에 따라 테스트 용량을 유연하게 조정할 수 있도록 돕는 재사용 및 재배치가 가능한 플랫폼이 완성됩니다.

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