Durchführung von Schwachstrommessungen auf PCBAs

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Integration einer Quellmesseinheit in den In-Circuit-Tester

Die Durchführung von Schwachstrommessungen an Leiterplatten (PCBAs) erfordert ein präzises Schwachstrommessgerät, wie z. B. ein Digitalmultimeter (DMM) oder eine Quellenmesseinheit (SMU). Diese Geräte müssen gleichzeitig Spannung und Strom mit hoher Auflösung und effektiver Rauschfilterung messen. Für die Durchführung von Tests mit geringen Ableitströmen während der In-Circuit-Testphase ist die Integration einer SMU in den In-Circuit-Tester (ICT) jedoch unerlässlich, um eine höhere Präzision zu erreichen.

Die Integration einer SMU in die IKT erfordert die Einrichtung einer Schnittstelle und den Anschluss des Testers an die spezifischen Knotenpunkte des zu prüfenden Geräts. Die Konfiguration der SMU umfasst daher die Einstellung der Ausgangsspannung, der Stromparameter und des gewünschten Messbereichs. Testingenieure benötigen außerdem Testpläne sowohl für die Hardware- als auch für die Software-Testautomatisierung. Die Erstellung eines neuen Prüfplans für jede Art von Leiterplatte gewährleistet eine genaue Prüfung.

ICT-Niedrigstrom-Testlösung

Niedrigstrommessungen in ICT-Systemen erfordern die Integration einer Source-Measure-Unit (SMU). Das Keysight ICT-Niedrigstrom-Testsystem vereinfacht diesen Prozess mit dem OpenTap-Plugin und der zweikanaligen Präzisions-Source-Measure-Unit Keysight B2912C. Das OpenTap-Plugin automatisiert die Testgenerierung in vier Schritten anhand der bereitgestellten Board-Datei und Parameter, führt alle notwendigen Berechnungen durch und zeigt die Ergebnisse direkt an. Die Integration der SMU in den ICT-Tester reduziert den manuellen Aufwand und steigert die Effizienz. Der Keysight i3070 7i nutzt diese Vorteile und bietet eine optimierte und flexible Lösung für Niedrigstromtests.
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