コース | 半導体のパラメトリック特性評価 – 第1部

半導体パラメトリック特性評価 – パート1

コース
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この包括的なブートキャンプでは、半導体特性評価の基礎と高度な技術を習得できます。ウェビナー、アプリケーションノート、そしてキーサイトの業界をリードするハンドブックを通じて、ベアチップの検証、ソース・メジャー・ユニット（SMU）の最適化、市場投入までの時間短縮のための設計シミュレーションなど、パラメトリック特性評価における実世界の課題に取り組むための実践的なスキルを身につけることができます。

学び：

パラメトリック・テストの基本原理 (CV-IV、準静的法と高周波法)。
正確な低レベル測定とADSによる仮想プロトタイピングのためのSMUベストプラクティス。
ゲート電荷 (JEDEC) およびSiC/GaN向け超低Rds-onを含む、高度なパワーデバイス特性評価。
テスト自動化およびリモート教育向けのデジタルラーニングスイート。

このブートキャンプは、半導体設計開発エンジニア、または半導体パラメトリック特性評価に興味のある方に最適です。

レッスン

第1回 - 半導体のパラメトリックテストとは？

半導体デバイスにおける静電容量の概念を紹介し、測定可能なさまざまな種類の静電容量について説明します。

第2課 - 測定の基礎

準静的法や高周波法など、静電容量の測定に使用できるさまざまな方法について説明します。

アプリケーションノート

パラメトリック測定

The latest version (Edition 5) of Keysight Technologies’ popular Parametric Measurement Handbook is now available. Since its initial release in 2010, this handbook has proven itself to be an invaluable reference tool for scientists, engineers and technicians involved with any aspect of parametric test. It is filled with tips to help both novice and advanced users, and the latest edition includes new sections on modular SMUs, high-resistance test, non-volatile memory test, and double pulse testing of power semiconductor devices.   Key topics covered in this handbook: <ul> <li>Parametric measurement basics</li> <li>SMU fundamentals</li> <li>On-wafer parametric measurements</li> <li>Time-dependent and high-speed measurements</li> <li>Resistance, diode and transistor measurements</li> <li>Semiconductor capacitance measurement</li> <li>Power device characterization</li> </ul>