강좌 | 반도체 파라미터 특성 분석 – 1부

반도체 파라메트릭 특성화 – 1부

코스
13 품목

이 종합 부트캠프를 통해 반도체 특성화의 기본 및 고급 기술을 살펴보십시오. 웨비나, 애플리케이션 노트 및 키사이트의 업계 선도적인 핸드북을 통해 베어 칩을 검증하거나, SMU(Source Measure Unit)를 최적화하거나, 더 빠른 시장 출시를 위해 설계를 시뮬레이션하는 등 파라메트릭 특성화의 실제 과제를 해결할 수 있는 실무 기술을 습득하게 됩니다.

학습:

파라메트릭 테스트의 핵심 원리(CV-IV, 준정적 대 고주파 방법).
정확한 저수준 측정 및 ADS를 이용한 가상 프로토타이핑을 위한 SMU 모범 사례.
게이트 전하(JEDEC) 및 SiC/GaN용 초저 Rds-on을 포함한 고급 전력 디바이스 특성화.
테스트 자동화 및 원격 교육을 위한 디지털 학습 스위트

이 부트캠프는 반도체 설계 및 개발 엔지니어 또는 반도체 파라메트릭 특성화에 관심 있는 모든 사람에게 이상적입니다.

레슨

제1강 - 반도체 파라메트릭 테스트란 무엇인가?

반도체 소자의 커패시턴스 개념을 소개하고 측정할 수 있는 다양한 커패시턴스 유형에 대해 설명합니다.

제2강 - 측정 기초

준정적 및 고주파 메서드를 비롯하여 커패시턴스 측정에 사용할 수 있는 다양한 방법에 대해 설명합니다.

애플리케이션 노트

파라메트릭 측정

The latest version (Edition 5) of Keysight Technologies’ popular Parametric Measurement Handbook is now available. Since its initial release in 2010, this handbook has proven itself to be an invaluable reference tool for scientists, engineers and technicians involved with any aspect of parametric test. It is filled with tips to help both novice and advanced users, and the latest edition includes new sections on modular SMUs, high-resistance test, non-volatile memory test, and double pulse testing of power semiconductor devices.   Key topics covered in this handbook: <ul> <li>Parametric measurement basics</li> <li>SMU fundamentals</li> <li>On-wafer parametric measurements</li> <li>Time-dependent and high-speed measurements</li> <li>Resistance, diode and transistor measurements</li> <li>Semiconductor capacitance measurement</li> <li>Power device characterization</li> </ul>