Caractérisation paramétrique des semi-conducteurs - Partie 1
  • Cours
  • 13 éléments

Explorez les principes fondamentaux et les techniques avancées de la caractérisation des semi-conducteurs grâce à ce camp d'entraînement complet. Grâce aux webinaires, aux notes d'application et au manuel de Keysight, vous acquerrez des compétences pratiques pour relever les défis réels de la caractérisation paramétrique, qu'il s'agisse de valider des puces nues, d'optimiser des unités de mesure de source (SMU) ou de simuler des conceptions pour accélérer le délai de mise sur le marché. 

Apprendre : 

  • Principes fondamentaux des essais paramétriques (CV-IV, méthodes quasi-statiques vs méthodes à haute fréquence).
  • Meilleures pratiques SMU pour des mesures précises de bas niveau et le prototypage virtuel avec ADS.
  • Caractérisation Advanced des dispositifs Advanced , notamment la charge de grille (JEDEC) et la résistance Rds-on ultra-faible pour le SiC/GaN.
  • Suite d'apprentissage numérique pour l'automatisation des tests et l'enseignement à distance.

Ce bootcamp est idéal pour les ingénieurs en conception et développement de semi-conducteurs ou toute personne intéressée par la caractérisation paramétrique des semi-conducteurs. 

Leçons
Leçon 1 - Qu'est-ce que le test paramétrique des semi-conducteurs ?

Leçon 1 - Qu'est-ce que le test paramétrique des semi-conducteurs ?

Ce chapitre présente le concept de capacité dans les dispositifs à semi-conducteurs et aborde les différents types de capacité pouvant être mesurés.
Leçon 2 - Notions de base sur les mesures

Leçon 2 - Notions de base sur les mesures

Présente les différentes méthodes permettant de mesurer la capacité, notamment les méthodes quasi-statiques et à haute fréquence.
La mesure paramétrique

Notes d'application

La mesure paramétrique

<p>The latest version (Edition 5) of Keysight Technologies’ popular Parametric Measurement Handbook is now available. Since its initial release in 2010, this handbook has proven itself to be an invaluable reference tool for scientists, engineers and technicians involved with any aspect of parametric test. It is filled with tips to help both novice and advanced users, and the latest edition includes new sections on modular SMUs, high-resistance test, non-volatile memory test, and double pulse testing of power semiconductor devices.</p> <p>&nbsp;</p> <p>Key topics covered in this handbook:</p> <ul> <li>Parametric measurement basics</li> <li>SMU fundamentals</li> <li>On-wafer parametric measurements</li> <li>Time-dependent and high-speed measurements</li> <li>Resistance, diode and transistor measurements</li> <li>Semiconductor capacitance measurement</li> <li>Power device characterization</li> </ul>

Leçon 3 - Unités de source et de mesure (SMU) pour les tests paramétriques

Leçon 3 - Unités de source et de mesure (SMU) pour les tests paramétriques

Présente un aperçu détaillé de la méthode quasi-statique de mesure de la capacité.

Leçon 4 - Conseils pour effectuer des mesures précises à faible altitude

Leçon 4 - Conseils pour effectuer des mesures précises à faible altitude

Présentation détaillée de la méthode à haute fréquence pour la mesure de la capacité.

Leçon 5 - Portfolio SMU

Leçon 5 - Portfolio SMU

Présente les différents éléments nécessaires à la mise en place d'une solution complète de mesure CV-IV.
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