Caracterización paramétrica de semiconductores - Parte 1
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Explore los fundamentos y las técnicas avanzadas de la caracterización de semiconductores con este completo bootcamp. A través de seminarios web, notas de aplicación y el manual de Keysight líder en la industria, obtendrá habilidades prácticas para hacer frente a los desafíos del mundo real en la caracterización paramétrica, ya sea que esté validando chips desnudos, optimizando unidades de medida de origen (Unidad de Alimentación y Medida) o simulando diseños para acelerar el tiempo de comercialización. 

Aprende: 

  • Principios básicos de los ensayos paramétricos (CV-IV, métodos cuasiestáticos frente a métodos de alta frecuencia).
  • Mejores prácticas de SMU para mediciones precisas de bajo nivel y creación de prototipos virtuales con ADS.
  • Caracterización Advanced de dispositivos Advanced , incluyendo la carga de puerta (JEDEC) y un Rds-on ultrabajo para SiC/GaN.
  • Digital Learning Suite para la automatización de pruebas y la formación a distancia.

Este bootcamp es ideal para ingenieros de diseño y desarrollo de semiconductores o cualquier persona interesada en la caracterización paramétrica de semiconductores. 

Lecciones
Lección 1: ¿Qué es la prueba paramétrica de semiconductores?

Lección 1: ¿Qué es la prueba paramétrica de semiconductores?

Presenta el concepto de capacitancia en los dispositivos semiconductores y analiza los diferentes tipos de capacitancia que se pueden medir.
Lección 2: Conceptos básicos sobre medidas

Lección 2: Conceptos básicos sobre medidas

Analiza los diferentes métodos que pueden utilizarse para medir la capacitancia, incluidos los métodos cuasiestáticos y de alta frecuencia.
La medida paramétrica

Notas de aplicación

La medida paramétrica

<p>The latest version (Edition 5) of Keysight Technologies’ popular Parametric Measurement Handbook is now available. Since its initial release in 2010, this handbook has proven itself to be an invaluable reference tool for scientists, engineers and technicians involved with any aspect of parametric test. It is filled with tips to help both novice and advanced users, and the latest edition includes new sections on modular SMUs, high-resistance test, non-volatile memory test, and double pulse testing of power semiconductor devices.</p> <p>&nbsp;</p> <p>Key topics covered in this handbook:</p> <ul> <li>Parametric measurement basics</li> <li>SMU fundamentals</li> <li>On-wafer parametric measurements</li> <li>Time-dependent and high-speed measurements</li> <li>Resistance, diode and transistor measurements</li> <li>Semiconductor capacitance measurement</li> <li>Power device characterization</li> </ul>

Lección 3: Unidades de fuente y medida (SMU) para pruebas paramétricas

Lección 3: Unidades de fuente y medida (SMU) para pruebas paramétricas

Ofrece una descripción detallada del método cuasiestático para medir la capacitancia.

Lección 4: Consejos para realizar mediciones precisas a baja altura

Lección 4: Consejos para realizar mediciones precisas a baja altura

Una descripción detallada del método de alta frecuencia para medir la capacitancia.

Lección 5 - Portafolio de la SMU

Lección 5 - Portafolio de la SMU

Analiza los distintos componentes necesarios para crear una solución completa de medición CV-IV.
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Resumen de los conceptos clave tratados en el curso, con enlaces a recursos adicionales.
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