Caratterizzazione parametrica dei semiconduttori - Parte 1
  • Corsi
  • 13 elementi

Esplorate i fondamenti e le tecniche avanzate della caratterizzazione dei semiconduttori con questo bootcamp completo. Grazie ai webinar, alle note applicative e al manuale leader del settore di Keysight, acquisirete competenze pratiche per affrontare le sfide reali della caratterizzazione parametrica, che si tratti di convalidare chip nudi, ottimizzare le unità di misura della sorgente (SMU) o simulare progetti per accelerare il time-to-market. 

Imparare: 

  • Principi fondamentali delle prove parametriche (CV-IV, metodi quasi statici o ad alta frequenza).
  • Le migliori pratiche SMU per misure accurate a basso livello e prototipazione virtuale con ADS.
  • Caratterizzazione Advanced dei dispositivi Advanced , compresa la carica di gate (JEDEC) e un Rds-on estremamente basso per SiC/GaN.
  • Suite di apprendimento digitale per l'automazione dei test e la formazione a distanza.

Questo bootcamp è ideale per i progettisti e gli sviluppatori di semiconduttori o per chiunque sia interessato alla caratterizzazione parametrica dei semiconduttori. 

Lezioni