Caracterização paramétrica de semicondutores - Parte 1
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Explore os fundamentos e as técnicas avançadas de caracterização de semicondutores com este abrangente bootcamp. Por meio de webinars, notas de aplicação e do manual líder do setor da Keysight, você adquirirá habilidades práticas para enfrentar os desafios do mundo real na caracterização paramétrica, seja para validar chips simples, otimizar unidades de medida de fonte (SMUs) ou simular projetos para acelerar o tempo de colocação no mercado.
Aprenda:
- Princípios básicos de testes paramétricos (CV-IV, métodos quase estáticos versus métodos de alta frequência).
- Práticas recomendadas da SMU para medições precisas de baixo nível e prototipagem virtual com o ADS.
- Caracterização avançada de dispositivos de potência, incluindo carga de porta (JEDEC) e Rds-on ultrabaixo para SiC/GaN.
- Digital Learning Suite para automação de testes e educação remota.
Esse bootcamp é ideal para engenheiros de projeto e desenvolvimento de semicondutores ou para qualquer pessoa interessada em caracterização paramétrica de semicondutores.
Lições
