Como evitar devoluções de semicondutores

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Detectar defeitos antes do envio

Para evitar devoluções de semicondutores, é necessário identificar defeitos estruturais no pacote antes que os dispositivos acabados saiam da linha de produção. Os equipamentos convencionais de teste automatizado (ATE) verificam a funcionalidade elétrica, enquanto a inspeção automatizada por raios X (AXI), realizada por amostragem, identifica defeitos físicos selecionados. No entanto, problemas estruturais, como flacidez dos fios, quase-curto-circuitos e outras anormalidades no pacote, podem passar despercebidos, permitindo que dispositivos defeituosos cheguem aos clientes e aumentem os custos de Autorização de Devolução de Material (RMA).

Os testes estruturais elétricos avaliam o acoplamento capacitivo entre estruturas condutoras internas sem alimentar o circuito integrado. Ao combinar medições estruturais de alta velocidade com a análise estatística de processos, os fabricantes podem identificar dispositivos com anomalias durante a produção, melhorar a qualidade do produto final e reduzir o número de unidades com defeito que chegam ao mercado.

Solução para prevenção de devoluções no setor de semicondutores

A redução dos custos de Autorização de Devolução de Material (RMA) exige a detecção de defeitos estruturais que os métodos convencionais de inspeção podem deixar passar despercebidos antes do envio dos produtos. A solução integra o Teste Estrutural Elétrico (EST) ao fluxo de fabricação de semicondutores após os testes realizados por Equipamentos de Teste Automatizados (ATE), proporcionando uma triagem estrutural adicional sem reduzir a produtividade. Utilizando a tecnologia capacitiva de Sonda Aprimorada para Teste Sem Vetor (VTEP), o sistema detecta defeitos, incluindo ligações de fios com risco de curto-circuito, flacidez vertical dos fios, posicionamento incorreto do chip e anomalias no composto do molde. A análise integrada de Teste Médio por Peça (PAT) monitora continuamente os dados de produção para identificar dispositivos anormais, minimizando, ao mesmo tempo, rejeições indevidas. De acordo com o estudo de caso, os testes de prova de conceito detectaram com sucesso todos os dez dispositivos com defeitos ocultos em um lote de 3.000 circuitos integrados, possibilitando uma triagem abrangente de defeitos e reduzindo o risco de devoluções de produtos onerosas.
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Como evitar devoluções de semicondutores

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