Come prevenire i resi nel settore dei semiconduttori

Collaudatore elettrico strutturale
+ Tester per strutture elettriche

Individuare i difetti prima della spedizione

Per prevenire i resi nel settore dei semiconduttori è necessario individuare i difetti strutturali dei pacchetti prima che i dispositivi finiti escano dalla linea di produzione. Le apparecchiature di collaudo automatizzate (ATE) convenzionali verificano la funzionalità elettrica, mentre l’ispezione automatizzata a raggi X (AXI) su campioni individua determinati difetti fisici. Tuttavia, problemi strutturali quali il cedimento dei fili, i quasi-cortocircuiti e altre anomalie dei pacchetti possono passare inosservati, consentendo ai dispositivi difettosi di raggiungere i clienti e aumentando i costi relativi alle autorizzazioni di reso (RMA).

I test strutturali elettrici valutano l'accoppiamento capacitivo tra le strutture conduttive interne senza alimentare il circuito integrato. Combinando misurazioni strutturali ad alta velocità con l'analisi statistica dei processi, i produttori possono individuare i dispositivi anomali durante la produzione, migliorare la qualità dei prodotti in uscita e ridurre il numero di unità difettose che entrano sul mercato.

Soluzione per la prevenzione dei ritorni nel settore dei semiconduttori

Per ridurre i costi legati alle autorizzazioni di reso (RMA) è necessario individuare i difetti strutturali che i metodi di ispezione convenzionali potrebbero non rilevare prima della spedizione dei prodotti. La soluzione integra i test strutturali elettrici (EST) nel flusso di produzione dei semiconduttori dopo i test effettuati con apparecchiature di collaudo automatizzate (ATE), fornendo un ulteriore screening strutturale senza ridurre la produttività. Grazie alla tecnologia capacitiva Vectorless Test Enhanced Probe (VTEP), il sistema rileva difetti quali collegamenti a filo quasi in cortocircuito, cedimenti verticali dei fili, posizionamento errato dei die e anomalie nel composto dello stampo. L’analisi integrata Part Average Test (PAT) monitora continuamente i dati di produzione per identificare i dispositivi anomali, riducendo al minimo i falsi scarti. Secondo il caso di studio, i test di validazione del concetto (Proof-of-Concept) hanno individuato con successo tutti e dieci i dispositivi difettosi nascosti in un lotto di 3.000 circuiti integrati, consentendo uno screening completo dei difetti e riducendo il rischio di costosi resi di prodotto.

Vedi lo schema a blocchi della soluzione per la prevenzione del ritorno di campo nei semiconduttori

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