如何測試相位陣列天線

取得報價

檢視解決方案簡介

+ PNA-X 向量網路分析儀

使用網路分析儀和訊號產生器測試相位陣列天線

測試相位陣列天線並進行高精度校準需要球形天線方向圖量測。單一測試平台，包括向量網路分析儀 (VNA)、向量訊號產生器 (VSG)、緊湊型天線測試場 (CATR) 和多個儀器軟體應用程式，可在簡化校準和測試設定的同時，實現廣泛的量測。VSG 在高載波頻率下提供所需的寬頻調變訊號，同時具備高速數位控制介面和相位陣列。可程式化儀器標準命令 (SCPI) 解析器將波束成形電路整合到測試系統中。

結合 CATR 和硬體迴路測試方法，VNA 透過應用向量誤差校正和先進校準方法，提供必要的量測精準度。VNA 軟體應用程式可實現增益壓縮、雜訊溫度增益 (G / T) 和低殘餘誤差向量幅度 (EVM) 量測。這些量測對於快速且精確的主動電子掃描陣列 (AESA) 校準和波束成形性能驗證是必要的。

相位陣列天線校準與測試解決方案

測試相位陣列天線需要高精度校準和全面球形天線方向圖量測。Keysight VXG 向量訊號產生器提供高輸出功率和超低相位雜訊，而 Keysight 緊湊型天線測試場 (CATR) 則將 AESA 與外部干擾源隔離。CATR 包含一個定位器，用於量測遠場球形角度的輻射特性。Keysight PNA-X 向量網路分析儀的功能，包括兩個內部訊號源、一個訊號組合器、雜訊接收器，以及一組靈活的開關和射頻存取點，可在單一儀器中實現廣泛的線性與非線性量測。天線量測軟體提供天線方向圖量測以及相位陣列天線控制與校準。PNA-X 從 CATR 的雙線性饋電喇叭天線的兩個埠擷取向量天線方向圖資料。該系統量測相位陣列的波束成形方向圖，以快速比較校準前後的輻射效能。關鍵指標包括有效等向輻射功率、輻射方向圖與波束掃描角度、波束掃描範圍、損耗、交叉極化隔離、增益壓縮、G/T 和 EVM。

取得報價