- 概述
- 所有型號
- 支援
以精準度和速度進行雜訊指數量測
Keysight NF7 級雜訊指數分析儀包含 N8679B-N8973B 雜訊指數分析儀。它們旨在進行快速、準確且可重複的雜訊指數量測。當與我們的訊號雜訊源 (SNS) 和隨附的 USB 前置放大器結合使用時，雜訊指數分析儀會自動下載過量雜訊比 (ENR) 資料，從而簡化量測流程。我們的雜訊指數分析儀易於使用，配備多點觸控介面，可支援拉伸、縮放和拖曳手勢。請選擇我們的熱門配置之一，或根據您的應用配置專屬的分析儀。需要協助選擇嗎？請查看下方資源。
低儀器不確定度
旨在將內部電路誤差降至最低，儀器低至 ±0.02 dB 的不確定度可確保準確且可重複的雜訊指數量測。
自動校準
透過在單一步驟中自動校驗多達 12 個待測裝置 (DUT) 設定，簡化 Y 因子量測，大幅縮短測試時間。
多模訊號分析
提供額外模式，例如頻譜分析儀和 IQ 分析儀，可在單一儀器中實現多樣化的訊號分析任務。
內建不確定度計算器
透過自動填入來自 SNS、USB 前置放大器以及分析儀雜訊指數和匹配等關鍵儀器參數的資料，計算雜訊指數不確定度。
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最高頻率
3.6 GHz 至 40 GHz
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Gain uncertainty
±0.15 dB
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Instrument uncertainty
±0.02 dB using a 4-6 dB ENR Noise Source
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頻寬
8 MHz
最熱門配置
NF7 級雜訊指數分析儀，多點觸控
NF7 級雜訊指數分析儀，多點觸控
NF7 級雜訊指數分析儀，多點觸控
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
現代接收系統通常必須處理非常微弱的訊號，但系統元件所增加的雜訊往往會掩蓋這些微弱的訊號。靈敏度、位元錯誤率 (BER) 和雜訊指數是描述處理低電平訊號能力的系統參數。在這些參數中，雜訊指數的獨特之處在於它不僅適用於表徵整個系統，也適用於表徵構成系統的元件，例如前置放大器、混頻器和中頻放大器。
透過控制系統元件的雜訊指數和增益，設計人員可直接控制整體系統的雜訊指數。一旦雜訊指數已知，即可從系統頻寬輕鬆估算出系統靈敏度。雜訊指數通常是區分不同系統、不同放大器和不同電晶體的關鍵參數。
雜訊量測所表徵的雜訊，由電氣設備中一般現象引起的自發性波動組成。熱雜訊源於傳導電子和電洞因其有限溫度而產生的振動。其中一些振動在感興趣的頻帶內具有頻譜內容，並對訊號產生雜訊。熱雜訊產生的雜訊頻譜在射頻和微波頻率範圍內幾乎均勻。熱源傳輸到阻抗匹配負載的功率為 kTB 瓦特，其中 k 是波茲曼常數 (1.38 x 10-23 焦耳/K)，T 是以 K 為單位的溫度，B 是系統的雜訊頻寬。可用功率與源阻抗無關。傳輸到匹配負載的可用功率與頻寬成正比，因此兩倍的頻寬將允許兩倍的功率傳輸到負載。
散粒雜訊源於電流的量子化特性。自然界中還存在其他量子化的隨機現象，它們也會產生類似散粒雜訊的雜訊。例如，半導體中電洞/電子對的產生與複合（G-R 雜訊），以及電晶體中射極電流在基極和集極之間的分佈（分佈雜訊）。這些雜訊產生機制具有與熱雜訊相似的特性，其頻譜基本上是均勻的，在整個 RF 和微波頻率範圍內產生相等的功率密度。
電氣裝置中隨機雜訊的成因有很多。雜訊特性分析通常是指元件中所有成因的綜合效應。這種綜合效應常被稱為彷彿全部由熱雜訊引起。將裝置稱為具有某種雜訊溫度，並不意味著該元件處於該物理溫度，而僅表示其雜訊功率等同於該溫度的熱源。儘管雜訊溫度與物理溫度不直接對應，但可能存在對溫度的依賴性。當裝置冷卻至低於環境溫度時，可以實現非常低的雜訊指數。
Y 因子法是大多數雜訊指數量測的基礎，無論是手動執行還是雜訊指數分析儀內部自動執行。透過使用雜訊源，此方法可以確定待測裝置 (DUT) 的內部雜訊，進而得出雜訊指數或有效輸入雜訊溫度。
將雜訊源連接至待測裝置後，即可量測雜訊源開啟與關閉時的輸出功率。這兩種功率的比率稱為 Y 因數。用於進行此量測的功率偵測器可以是功率計、頻譜分析儀，或是雜訊指數計和分析儀中特殊的內部功率偵測器。相對準確度非常重要。現代雜訊指數分析儀的優點之一是，其內部功率偵測器具有高度線性，可非常精確地量測電平變化。由於量測的是比率，因此量測裝置的絕對功率電平準確度並不重要。